一种高可靠电子产品贮存寿命评估方法

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英文篇名：A Storage Life Assessment Method of Highly Reliable Electronic Product 作者：王九兴 ; 付力力 ; 邢志伟 ; 刘雄飞 ; 王瑞 英文作者：WANG Jiu-xing;FU Li-li;XING Zhi-wei;LIU Xiong-fei;WANG Rui;Beijing Institute of Control and Electronics Technology;Launch Vehicle Technology Academy of China Aerospace Science & Technology Industry Corporation; 关键词：多应力 ; 加速试验 ; 贮存寿命评估 英文关键词：multi-stress;;accelerated test;;storage life assessment 中文刊名：JSCX 英文刊名：Equipment Environmental Engineering 机构：北京控制与电子技术研究所;中国航天科工运载技术研究院北京分院; 出版日期：2019-03-25 出版单位：装备环境工程 年：2019 期：v.16 语种：中文; 页：JSCX201903007 页数：4 CN：03 ISSN：50-1170/X 分类号：34-37

摘要

介绍了加速寿命试验的基本理论,并给出一种基于多应力加速试验的高可靠电子产品贮存寿命评估方法。首先给出一种基于多应力加速试验的电子产品贮存寿命评估流程,然后指出关键环节是根据产品特点选择合适的加速应力、加速模型,最后给出数据处理方法。该评估方法经过了工程实践,快速评估出一种高可靠产品的贮存寿命。
        This paper proposed a method of the storage life assessment for high reliability electronic product based on the accelerated test with multiple accelerating stresses. First, the technological process of the storage life assessment for electronic products based on the accelerated test with multiple accelerating stresses was introduced; then it was pointed that the key was to choose accelerating stresses and accelerated model according to characteristics of product. This assessment method is verified through practice. It could rapidly assess the storage life of highly reliable product.

引文

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