摘要
采用熔片法制样,建立了运用X射线荧光光谱法测定钛白粉中二氧化钛(Ti O_2)、二氧化硅(Si O_2)、三氧化二铝(Al_2O_3)和三氧化二铁(Fe_2O_3)含量的方法。用校准氧化物按适当比例配制标准样品,用理论影响系数α校正元素间的基体效应。方法简便、快速、准确,满足了生产企业进行产品质量实时管控的需要。
引文
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