基于虚拟仪器的便携式雷达测试系统设计

详细信息    查看全文 | 推荐本文 |

英文篇名：Design and Evaluation of Portable Radar Tester System 作者：张军杰 ; 黄波 ; 冉焱 英文作者：ZHANG Junjie;HUANG Bo;RAN Yan;Measurement and Control Radar Division,Twenty-seventh Optical and Radar Institute of China Electronics Technology Group;Key Laboratory of Electronic Information Countermeasure and Simulation,Ministry of Education,Xidian University; 关键词：雷达测试 ; 信号处理 ; 虚拟仪器 英文关键词：radar test;;ignal processing;;virtual instrument 中文刊名：DZKK 英文刊名：Electronic Science and Technology 机构：中国电子科技集团第27研究所测控与雷达事业部;西安电子科技大学电子信息攻防对抗与仿真技术教育部重点实验室; 出版日期：2014-11-15 出版单位：电子科技 年：2014 期：v.27;No.302 语种：中文; 页：DZKK201411039 页数：5 CN：11 ISSN：61-1291/TN 分类号：137-140+144

摘要

针对传统的雷达测试系统存在操作繁琐,测量功能单一、测量仪器多、不便于携带等缺点,文中以通用的模块化仪器构建硬件平台,基于Lab Windows/CVI设计系统软件,搭建基于虚拟仪器设计便携式雷达测试系统,实现了雷达参数的采集、测量、分析及评估。仿真与实际应用证明,该套测试系统操作简单,测试精度高,且易于携带。
        In view of the large size,low accuracy,and inconvenience to carry of the traditional radar testing systems,a portable radar testing system based on virtual instruments is designed with versatile modular instrumentation as the hardware platform and Lab Windows/CVI as the system software. The radar testing system is designed to achieve the data collection and measurement,analysis and the assessment of radar parameters. Practical application and simulations prove that the system is simple to operate and easy to carry,with high precision and efficiency.

引文

[1]张剑,张辛勤,任伟,等.基于虚拟仪器的舰载某型雷达测试系统的实现[J].计算机测量与控制,2008,16(3):346-348.
    [2]祁雪梅,吕修亚,高级,等.虚拟数据采集及处理器设计[J].国外电子测量技术,2006,25(7):27-29.
    [3]章战冰,邓斌.虚拟数字存储示波器软面板的设计[J].仪表技术,2006,14(6):31-34.
    [4]齐晓辉,金涛,林茂六.基于虚拟仪器的雷达回波数据记录仪[J].仪器仪表学报,2006,27(1):440-441,446.
    [5]刘晓林.基于VXI总线的多通道高速数据采集和留盘系统的实现[J].测控技术,2002,21(4):25-28.
    [6]邓斌,黄少峰,杨江平.基于LXI总线的雷达性能参数自动测试系统[J].现代防御技术,2008,36(4):97-102.
    [7]王建新,杨世凤,隋美丽.Lab Windows/CVI测试技术及工程应用[M].北京:化学工业出版社,2006.
    [8]张惊雷,王鑫.基于Lab Windows/CVI异步定时的多通道数据采集[J].测控技术,2014,33(2):100-102.
    [9]刘建斌,张淑萍.基于Lab Windows/CVI的遥测数据采集系统设计[J].测控技术,2014,33(1):31-33,37.
    [10]曾德国,熊辉,龙柯宇,等.基于相位差分的脉内调制信号类型识别[J].电子测量与仪器学报,2009,23(10):85-90.