玻璃基板缺陷检查技术研究

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	英文篇名：Research on Glass Substrate Defect Inspection Technology 作者：胡恒广 英文作者：HU Heng-guang;Tunghsu Group; 关键词：玻璃基板 ; 品质 ; 缺陷 ; 检查技术 英文关键词：glass substrate;;quality;;defect;;inspection technology 中文刊名：JZGC 英文刊名：Value Engineering 机构：东旭集团有限公司; 出版日期：2019-03-28 出版单位：价值工程 年：2019 期：v.38;No.521 基金：河北省重点研发计划项目(18211108D) 语种：中文; 页：JZGC201909028 页数：3 CN：09 ISSN：13-1085/N 分类号：87-89

摘要

玻璃基板缺陷检查对于玻璃品质的管控十分重要,其检查准确度直接影响用户对于产品的认可程度。本文通过对玻璃基板缺陷检查技术进行介绍,针对已有缺陷检查技术中存在的问题,提供解决对策,满足不同类型的缺陷检查需求,准确、高效检查玻璃基板缺陷,降低漏检率,提高生产效率。
        Glass substrate defect inspection is very important for the control of glass quality. The accuracy of inspection directly affects the user's recognition of the product. This paper introduces the glass substrate defect inspection technology, provides solutions to the problems in the existing defect inspection technology, to meet different types of defect inspection requirements, and accurately and efficiently inspect glass substrate defects, reduce missed detection rate, and improve production efficiency.

引文

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