集成电路封装技术与低成本质量控制
详细信息    查看全文 | 推荐本文 |
  • 作者:吕炳赟
  • 关键词:集成电路 ; 封装 ; 低成本 ; 质量控制
  • 中文刊名:DZRU
  • 英文刊名:Electronic Technology & Software Engineering
  • 机构:浙江大华技术股份有限公司;
  • 出版日期:2019-05-24 16:58
  • 出版单位:电子技术与软件工程
  • 年:2019
  • 期:No.156
  • 语种:中文;
  • 页:DZRU201910074
  • 页数:1
  • CN:10
  • ISSN:10-1108/TP
  • 分类号:105
摘要
文章分析了集成电路封装的成本,提出了通过选择低成本塑封料以实现集成电路封装成本控制的方法,并阐述了集成电路封装的质量控制措施,期望对提高集成电路封装经济效益和技术效果,实现集成电路封装小型化有所帮助。
        
引文
[1]周金成,李亚斌,李习周.塑封集成电路封装芯片压区铝层腐蚀问题探讨[J].中国集成电路,2016(08):71-72.
    [2]张知.高可靠集成电路封装技术研究[J].无线互联科技,2014(08):162-163.
    [3]余培,邓世国,崔波,刘华珠,张志.结构优化的集成电路封装[J].卷宗,2018(24):130-132.
    [4]孙千十.期集成电路封装中的引线键合技术探究[J].电子制作,2015(13):90-91.

© 2004-2018 中国地质图书馆版权所有 京ICP备05064691号 京公网安备11010802017129号

地址:北京市海淀区学院路29号 邮编:100083

电话:办公室:(+86 10)66554848;文献借阅、咨询服务、科技查新:66554700