数字电路测试程序设计

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英文篇名：Developing for Testing Program of Digital Circuits 作者：刘珊珊 ; 康锡娥 英文作者：LIU Shanshan,KANG Xi’e(China Electronics Technology Group Corporation No.47 Research Institute,Shenyang 110032,China) 关键词：功能测试 ; 直流测试 ; 交流测试 ; 测试向量 英文关键词：function test;DC test;AC test;test vector 中文刊名：DYFZ 英文刊名：Electronics & Packaging 机构：中国电子科技集团公司第47研究所; 出版日期：2013-06-20 出版单位：电子与封装 年：2013 期：v.13;No.122 语种：中文; 页：DYFZ201306003 页数：4 CN：06 ISSN：32-1709/TN 分类号：12-14+30

摘要

为了更好地满足生产质量要求,严格测试电路的全部功能及交直流参数是十分必要的。在多年测试实践基础上,文章提出了数字电路测试程序设计的概要。随着集成电路的集成度越来越高,功能更加强大,测试向量越来越大,测试时间也越来越长。为了降低测试成本,Teradyne J750测试系统以测试速度快的特点,顺应测试行业的发展,在行业中得到了广泛的应用。文中以74HC123芯片为例,对于一些数字电路关键测试技术在Teradyne J750测试机上的调试做出了较详细的阐述。
        With higher integrated,more powerful function and more testing vector,the time spent in testing gets longer.To reduce the cost,Teradyne J750,a fast speed testing system is widely used in the industry.Just take the 74HC123 circuit for an example,some key technologies for how to debug on J750 is made more elaborated.

引文

[1]Michael L.Bushnell等著,蒋安平等译.超大规模集成电路测试——数字、存储器和混合信号系统[M].北京:电子工业出版社,2005.
    [2]许伟达.IC测试原理——存储器和逻辑芯片的测试[J].半导体技术,2006,31(5):350-352.
    [3]杨广宇.AGILENT的混合信号测试解决方案[J].半导体技术,2004,29(1):49-50.