电子设备用固定电容器标准IEC 60384-1:2016与GB/T 2693-2001差异分析

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英文篇名：Difference Analysis of Standard IEC 60384-1:2016 and GB/T 2693-2001 of Fixed Capacitors for Use in Electronic Equipment 作者：刘学孔 ; 薛超 ; 张玉芹 关键词：电子设备用固定电容器 ; 总规范 ; 稳态湿热 ; 晶(锡)须生长 英文关键词：fixed capacitors for use in electronic equipment;;generic specification;;steady-state wet-heat;;crystal (tin)whiskers growth 中文刊名：DZBZ 英文刊名：Information Technology & Standardization 机构：中国电子技术标准化研究院; 出版日期：2019-04-10 出版单位：信息技术与标准化 年：2019 期：No.412 语种：中文; 页：DZBZ201904013 页数：4 CN：04 ISSN：11-4753/TN 分类号：50-53

摘要

对比电子设备用固定电容器标准IEC 60384-1:2016与GB/T 2693-2001,分析两者在稳态湿热试验、加速稳态湿热试验的试验条件、试验方法等方面的主要差异,重点阐述了新增项目晶(锡)须生长的危害及试验方案,为修订GB/T 2693-2001提供支撑。
        By comparing standard IEC 60384-1:2016 and GB/T 2693-2001 of fixed capacitors for use in electronic equipment, the main differences in test conditions, test methods and other aspects of steady-state and accelerated steadystate wet-heat test are analyzed, and the hazards of crystal(tin) whiskers growth and test schemes of new projects are emphatically expounded, which will provide support for the revision of GB/T 2693-2001.

引文

[1]李舒平. GB/T 2693-2001电子设备用固定电容器第1部分:总规范[S].北京:中国标准出版社,2001.
    [2]IEC. IEC 60384-1:2016 Fixed capacitors for use in electronic equipment-Part 1:Generic specification[S]. Genera:IEC, 2016.
    [3]姜东升,张沛,刘震.航天电子产品金属晶须形成机理、危害及抑制措施分析[J].导航与控制,2015(1):27-31.
    [4]王先锋,贺岩峰.锡须生长机理的研究进展[J].电镀与涂饰, 2005(8):49-51.