单片机应用系统的可靠性设计
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  • 作者:刘咏华
  • 关键词:单片机 ; 可靠性 ; 设计
  • 中文刊名:DZZZ
  • 英文刊名:Practical Electronics
  • 机构:德州职业技术学院;
  • 出版日期:2019-04-01
  • 出版单位:电子制作
  • 年:2019
  • 期:No.371
  • 语种:中文;
  • 页:DZZZ201907039
  • 页数:2
  • CN:07
  • ISSN:11-3571/TN
  • 分类号:101-102
摘要
电子元器件能否稳定的运行其可靠性是一个很重要的因素。在实际应用中,可靠性主要从器件的软件和硬件两个层次进行研究设计,单片机也是如此。本文从这两个方面对单片机的可靠性进行了研究。
        
引文
[1]刘刚.单片机应用系统的可靠性设计原则及应用[J].江西科技师范大学学报2002(6):147-148.
    [2]朱敏,任俊新.单片机应用系统的可靠性设计[J].测控技术,2008,27(10):89-90.
    [3]郑蕾,郭伟,郝继飞.单片机应用系统软件可靠性设计[J].微机发展,2003,13(8):77-79.

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