高精度像差检测运动控制及图像采集系统设计
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  • 英文篇名:High accuracy aberration detection motion control and image acquisition system designed
  • 作者:夏舒仪 ; 李兵 ; 张清洋 ; 韩晓泉
  • 英文作者:Xia Shuyi;LI Bing;Zhang Qingyang;Han Xiaoquan;Academy of Opto-electronics Chinese Academy of Sciences;Beijing Excimer Laser Engineering Technology Research Center;University of Chinese Academy of Sciences;
  • 关键词:横向剪切干涉 ; 波像差 ; CMOS图像探测器 ; 位移台
  • 英文关键词:transverse shearing interferometry;;wave aberration;;CMOS image detector;;displacement table
  • 中文刊名:GWCL
  • 英文刊名:Foreign Electronic Measurement Technology
  • 机构:中国科学院光电研究院;北京市准分子激光工程技术研究中心;中国科学院大学;
  • 出版日期:2017-06-15
  • 出版单位:国外电子测量技术
  • 年:2017
  • 期:v.36;No.271
  • 语种:中文;
  • 页:GWCL201706024
  • 页数:5
  • CN:06
  • ISSN:11-2268/TN
  • 分类号:113-116+125
摘要
投影物镜是光刻机的重要组成部分,直接影响光刻技术指标,因此投影物镜波像差是光刻机中关键的检测指标之一。横向剪切干涉是重要的波像差检测方法,根据横向剪切原理,设计了高精度运动控制及图像采集系统以检测光刻机投影物镜波像差是否满足要求。该系统采用宏-微结构以同时满足行程和位置精度的要求;并由CMOS图像探测器实时采集保存剪切干涉图像。剪切干涉图像通过波前重建计算得到投影物镜的波像差,实验结果满足波像差检测重复性精度要求。该系统具有高集成、可扩展、操作简便和维护简单的特点,可广泛应用于相关领域中。
        Projection lens is an important part of the lithography machine,directly affect the lithography technology index,so the wave aberration of the projection lens is one of the most important indexes of the lithography machine.Transverse shearing interferometry is an important method of wave aberration detection.Base on the transverse shear principle,a high precision motion control and image acquisition system is designed to detect whether the wave aberration of the projection lens is satisfied.And the macro-micro structure is adopted to meet the requirements of both stroke and position precision,and Real-time acquisition by the CMOS image detector to save the shear interference image.The wave front aberration of the projection objective is calculated by wave front reconstruction.The experimental results satisfy the requirement of the aberration of the wave aberration.The system is highly integrated,scalable,easy to operate and easy to maintain features,can be widely used in related fields.
引文
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