基于应变片的应力测量电路分析

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	作者：朱浩铭 ; 蒋正忠 关键词：应变片 ; 放大电路 ; 应变 ; 应力测量 英文关键词：strain gauge;;amplifying circuit;;strain;;stress measurement 中文刊名：CXYY 英文刊名：Technology Innovation and Application 机构：南宁学院机电与质量技术工程学院; 出版日期：2019-06-06 出版单位：科技创新与应用 年：2019 期：No.273 基金：南宁学院校级科研项目(编号:2018XJ37) 语种：中文; 页：CXYY201917024 页数：2 CN：17 ISSN：23-1581/G3 分类号：60-61

摘要

文章分析了一种基于电阻应变片的应力测量理论测量电路。为降低实际测量中环境温度对测量结果的影响,文章进一步研究了测量电路的温度补偿措施。文中将理论应力测试和温度补偿方法相结合,给应力测试的实际操作提供了一套具有较高参考价值思路。
        In this paper, a theoretical measurement circuit of stress measurement based on resistance strain gauge is analyzed. In order to reduce the influence of ambient temperature on the measurement results, the temperature compensation measures of the measuring circuit are further studied in this paper. In this paper, the combination of theoretical stress measurement and temperature compensation method provides a set of ideas with reference value for the practical operation of stress testing.

引文

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