光伏组件湿冻老化后失效分析

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	作者：王会晓 ; 麻超 ; 郑炯 ; 张向前 ; 刘红伟 关键词：光伏组件衰减 ; TC50+HF10 中文刊名：DZZZ 英文刊名：Practical Electronics 机构：英利能源(中国)有限公司; 出版日期：2019-04-15 出版单位：电子制作 年：2019 期：No.372 语种：中文; 页：DZZZ201908013 页数：3 CN：08 ISSN：11-3571/TN 分类号：38-40

摘要

光伏组件(以下简称"组件")发电是近年发展最快的新能源之一,其可靠性是保证光伏组件性能的因素。其中TC50+HF10老化序列就是评估光伏组件可靠性的一个老化序列,性能衰减是考量合格与否的关键。光伏组件经过TC50+HF10老化后,功率衰减高于IEC61215标准要求,其中EL图有明显明暗不均现象,为了验证功率衰减是否同明暗不均电池片有关,本文从透水率、漏电流、微观氧化等方面进行分析、验证,找出电池片发亮、发暗的原因。
        

引文

[1]The degradation of multicrystalline silicon solar cells after damp heat Tests,Wonwook Oha,Seongtak Kima, Soohyun Baea, Noc hang Park b, Yoonmook Kang c, HaeSeok Lee a,*, Donghwan Kim a,*
    [2]FAILURE MODES AFTER DAMP HEAT TESTS ON PV MODULES,Mike Van Iseghem, Antoine Plotton, JeanFran?ois Penneau, Nadège Chatagn on, Didier Binesti EDF R&D–77818Moret-sur-Loing(France)
    [3]FAILURE ANALYSIS OF DARK CEL LS DETECTED BY ELECTROLUMINESCE NCE(EL),GUOFENG WANG 1, HAIDAN GONG 2, JINGBING ZHU 3
    [4]Broken metal fingers in silicon wafer solar cells and PV modules,Pooja Chaturvedi*, Bram Hoex, Timothy M Walsh