配电开关引起的智能微电网事故跳闸原因分析与处理

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英文篇名：Cause Analysis and Treatment of Intelligent Microgrid Trip Caused by Distribution Switch 作者：董玉杰 ; 任妮 ; 王家陈 英文作者：DONG Yujie;REN Ni;WANG Jiachen;Yunnan Electric Power Technology Co.,Ltd.; 关键词：智能微电网 ; 配电开关 ; 事故跳闸 英文关键词：intelligent micro-grid;;distribution switch;;fault trip 中文刊名：DGJY 英文刊名：Electric Engineering 机构：云南电力技术责任有限公司; 出版日期：2018-06-25 出版单位：电工技术 年：2018 期：No.474 语种：中文; 页：DGJY201812013 页数：2 CN：12 ISSN：50-1072/TM 分类号：34-35

摘要

云南某智能微电网项目在投产过程中由于配电开关参数设计不当而引起了事故跳闸,本文对该事故跳闸的可能原因进行了分析、总结,并提出了相应的改进措施,同时,通过试验验证了应对措施的可行性。
        Due to the improper design of distribution switch parameters,a fault trip occurred in an intelligent microgird project in Yunnan during production.This paper analyzes and summarizes the possible causes of the trip,and puts forward corresponding improvement measures.At the same time,the feasibility of the countermeasures is verified through experiments.

引文

[1]郑漳华,艾芊.微电网的研究现状及在我国的应用前景[J].2008,32(16):27-31,58.
    [2]鲁宗相,王彩霞,闵勇,等.微电网研究综述[J].电力系统自动化,2007,31(19):100-107.