测量电路中的共地干扰问题

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	英文篇名：Common ground interference in measuring circuit 作者：钱柏年 英文作者：QIAN Bai-nian;Siglent Science and Technology Company; 关键词：共地干扰 英文关键词：Common ground interference 中文刊名：JCDI 英文刊名：China Integrated Circuit 机构：深圳鼎阳科技有限公司; 出版日期：2017-03-05 出版单位：中国集成电路 年：2017 期：v.26;No.214 语种：中文; 页：JCDI201703016 页数：3 CN：03 ISSN：11-5209/TN 分类号：81-83

摘要

结合产品开发中的实际案例,分析了测试测量电路中的共地干扰的常见现象,产生原因,以及在电路设计和PCB布线中如何避免和解决此类问题的一些思路。为此类问题的研究,尤其是实际的产品开发,提供一些借鉴。
        Combined with the actual case in product development, analyzes the causes of the common ground interference phenomenon in measuring circuits, and provides some ideas on circuit design and layout in PCB to avoid the effect of the interference. Provides some reference for the study of such problems, especially in actual product development.

引文

[1]ADI公司,PCBoard Layout Techniques for FAEs.