探讨铁矿石检测中钴内标X射线荧光光谱分析法的运用

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	作者：郭军锋 关键词：荧光光谱分析 ; 铁矿石 ; 钴内标X射线 中文刊名：JSTB 英文刊名：China Metal Bulletin 机构：咸阳西北有色七一二总队有限公司; 出版日期：2017-08-30 出版单位：中国金属通报 年：2017 期：No.983 语种：中文; 页：JSTB201708061 页数：2 CN：08 ISSN：11-5004/TF 分类号：128-129

摘要

X射线荧光光谱分析(XRF)是一种利用原级X射线光子或其他微观粒子激发待测物质中的原子,使之产生荧光(二次X射线),从而对样品进行化学成分定性分析和定量研究的方法。与传统化学分析方法相比较,X射线荧光光谱分析法在检测效率与准确度上都有了很大提高。玻璃熔片法与粉末压片法是铁矿石X射线荧光光谱法分析常用的手段,但由于种种原因,其检测结果的准确度却不如化学法高。为此,本文笔者通过实验对钴内标X射线光谱分析方法在铁矿石检测中的应用进行探讨,希望为相关工作提供参考。
        

引文

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