探讨铁矿石检测中钴内标X射线荧光光谱分析法的运用

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	作者：李莹希 关键词：铁矿石 ; 钴内标 ; X射线荧光光谱分析法 中文刊名：JSTB 英文刊名：China Metal Bulletin 机构：山东省第三地质矿产勘查院; 出版日期：2018-06-30 出版单位：中国金属通报 年：2018 期：No.993 语种：中文; 页：JSTB201806138 页数：2 CN：06 ISSN：11-5004/TF 分类号：245+247

摘要

X射线荧光光谱分析法的工作原理是借助原级X射线光子或者其他微观粒子激发被检测物质中的原子,使其产生荧光X射线(也称二次X射线),对待检测物质的化学成分进行定性、定量分析。该方法相较于传统化学分析方法理论上具有更高的检测准确度和检测效率。目前常用的X射线荧光光谱法分析法主要包括玻璃熔片法、粉末压片法、钴内标法,前两种方法的实际检测精度不如化学分析法。因此,本文通过试验研究了钴内标X射线光谱分析方法在铁矿石检测中的应用,旨在为相关工作提供参考。
        

引文

[1]程进.钴内标玻璃熔片X射线荧光光谱法分析铁矿石中的主、次元素[J].福建分析测试,2009,18(1):46-49.
    [2]黄元,曹素红.钴玻璃熔片-X射线荧光光谱法测定铁矿石中各组分[J].福建分析测试,2011,20(2):5-9.
    [3]李小莉,安树清.X射线荧光光谱法测定铁矿中铁等多种元素[C]//帕纳科中国x射线分析仪器用户技术交流会.2008.