集成电路测试数据的分析与应用研究
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摘要
随着集成电路技术的不断进步,集成电路器件在工业科技领域的应用不断增长。为保证集成电路企业输出质量上乘、品质优良的产品,对集成电路器件测试的要求也不断提高。通过对集成电路测试中测试数据、测试向量、测试结果等测试文件处理和分析研究,对于应用到集成电路设计、制造等关键环节具有十分重要的技术意义和经济意义。
With the continuous progress of integrated circuit technology, the application of integrated circuit devices in the field of Industrial Science and technology is increasing. In order to ensure the high quality and high quality products of IC enterprises, the requirements for IC device testing have been constantly improved. The processing and analysis of testing data, testing vectors, testing results and other testing files in IC testing are of great technical and economic significance for the application to the key links of IC design and manufacturing.
With the continuous progress of integrated circuit technology, the application of integrated circuit devices in the field of Industrial Science and technology is increasing. In order to ensure the high quality and high quality products of IC enterprises, the requirements for IC device testing have been constantly improved. The processing and analysis of testing data, testing vectors, testing results and other testing files in IC testing are of great technical and economic significance for the application to the key links of IC design and manufacturing.
引文
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[10]刘煜坤.数字集成电路测试方法研究[D].黑龙江:哈尔滨理工大学,2009.
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[13]李春伟,何振中,陈新武.改进的大规模集成电路测试方法[J].信息与电子工程,2007(04):308-312.
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[20]黄越.数字集成电路自动测试生成算法研究[D].江苏:江南大学,2012.
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