变频空调片状电阻银迁移值小的失效分析与研究
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  • 英文篇名:Failure analysis and Research on small silver transfer value of frequency conversion air conditioner chip resistor
  • 作者:王少辉 ; 项永金
  • 关键词:变频空调 ; 片状电阻 ; 银迁移失效 ; 直流梯度电压 ; 可靠性
  • 中文刊名:DZCS
  • 英文刊名:Electronic Engineering & Product World
  • 机构:格力电器(合肥)有限公司;
  • 出版日期:2019-05-04
  • 出版单位:电子产品世界
  • 年:2019
  • 期:v.26;No.364
  • 语种:中文;
  • 页:DZCS201905023
  • 页数:6
  • CN:05
  • ISSN:11-3374/TN
  • 分类号:82-87
摘要
家用变频空调外机控制器主板在售后使用2~4年时间后报E6通讯故障,经过对失效品分析为片状电阻值小导致。对大量售后失效数据统计,发现片状电阻失效集中在通讯电路与开关电源母线电压检测电路。测量片状电阻阻值无固定点,与标称阻值差异较大。通过对售后返回失效片状电阻分析,采用高配放大镜、能谱分析等手段研究了片状电阻银迁移现象和失效机理。分析研究结果显示,片状电阻端电极含有银金属,银金属被腐蚀迁移导通造成阻值变小。本文从片状电阻银迁移的失效机理、器件本身、器件实际应用环境、电路可靠性等方面进行全面分析改善,有效解决了电阻银迁移失效问题。
        
引文
[1]银迁移--在厚膜导体上的机理和影响[J],百度文库,2017-10-19
    [2]雷云燕.厚膜片状电阻器开路失效分析[J],电子元件与材料,2000-06-28
    [3]崔斌.片状电阻硫化失效机理及应用可靠性研究[J],电子产品世界,2017-07-04
    [4]Brian Mccabe.薄膜电阻器提供不渗透硫的解决方案[J],今日电子,2009-11-15

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