直拉法硅单晶生长中断棱与掉苞问题的探讨
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  • 英文篇名:Investigation on the Growth Problems in CZ-Si Crystal
  • 作者:董建明 ; 张波 ; 刘进 ; 赵科巍 ; 罗晓斌 ; 赵彩霞
  • 英文作者:DONG Jianming,ZHANG Bo,LIU Jin,ZHAO Kewei,LUO Xiaobin,ZHAO Caixia(Shanxi Lu'An Photovoltaics Technology Co.,Ltd.,Changzhi 046001)
  • 关键词:直拉法 ; 位错 ; 单晶生长 ; 杂质 ; 热场
  • 英文关键词:Czochralski method(CZ),dislocation,crystal growth,impurity,thermal field
  • 中文刊名:CLDB
  • 英文刊名:Materials Review
  • 机构:山西潞安太阳能科技有限责任公司;
  • 出版日期:2013-05-25
  • 出版单位:材料导报
  • 年:2013
  • 期:v.27
  • 语种:中文;
  • 页:CLDB2013S1046
  • 页数:3
  • CN:S1
  • ISSN:50-1078/TB
  • 分类号:169-171
摘要
在直拉法硅单晶生长过程中,由于位错的产生经常会导致硅棒发生断棱与掉苞现象,严重影响了晶体硅和器件的性能,降低了硅太阳能电池的光电转换效率。为了分析该现象,借助于位错形成的理论,探讨了Φ203mm(100)硅棒发生断棱与掉苞的具体原因及应对措施。影响直拉法单晶硅棒发生断棱与掉苞的因素包括:熔体中过多的杂质,热场、机械传动装置及炉体的不稳定等。
        The growth problems in CZ-Si crystal occurs frequently in silicon single crystal growth due to dislocations,has seriously affected the quality of crystal silicon and the performance of the device,reducing the photoelectric conversion efficiency of solar cells.In order to analyze the growth problems in CZ-Si crystal,with the help of the formation of dislocation theory,the specific causes of growth problems in(100) silicon crystal of Φ203 mm and counter measures are discussed.The main factors are the too many impurities in melt,the instability of thermal field,mechanical transmission devices and furnace.
引文
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