基于CCD传感器的高等别线纹尺检定装置研制

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英文篇名：Development of High-level Line Ruler Verification Device Based on CCD Sensor 作者：胡学刚 英文作者：Hu Xuegang;Suzhou Institute of Metrology; 关键词：高等别线纹尺 ; CCD传感器 ; 校准装置 ; 方法验证 英文关键词：Higher Line Ruler;;CCD Sensor;;Calibration Device;;Method Verification 中文刊名：YQBJ 英文刊名：Instrument Standardization & Metrology 机构：苏州市计量测试院; 出版日期：2019-02-26 出版单位：仪器仪表标准化与计量 年：2019 期：No.205 语种：中文; 页：YQBJ201901023 页数：3 CN：01 ISSN：11-3365/TK 分类号：47-49

摘要

高等别线纹尺作为光学影像仪器的校准工具应用广泛,现有的高等别线纹尺检定装置存在造价昂贵,效率较低等问题,为此本文介绍了基于CCD传感器的高等别线纹尺校准装置研制方案,并通过方法验证确认本方案的可靠性。
        The high-grade line ruler is widely used as a calibration tool for optical imaging instruments. The existing high-level line ruler veri?cation device has the problems of high cost and low ef?ciency. For this reason,this paper introduces the high-grade line pattern based on CCD sensor. The calibration device was developed and the reliability of the solution was con?rmed by method veri?cation.

引文

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