浅析GB/T 18859—2016与GB/Z 18859—2002的技术差异

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英文篇名：Discussion on Technical Differences Between Standard GB/T 18859—2016 and GB/Z 18859—2002 作者：陈喜彦 ; 田慧超 ; 杨龙 英文作者：CHEN Xiyan;TIAN Huichao;YANG Long;China National Quality Supervision and Testing Center for Smart Grid Transmission and Distribution Equipment,Guang'an Electrical Testing Certer (Guangdong) Co.,Ltd; 关键词：GB/T ; 18859—2016 ; GB/Z ; 18859—2002 ; 标准差异 ; 内部故障电弧 英文关键词：GB/T 18859—2016;;GB/Z 18859—2002;;standard difference;;internal arc fault 中文刊名：DYDQ 英文刊名：Electrical & Energy Management Technology 机构：国家智能电网输配电设备质量监督检验中心广安电气检测中心(广东)有限公司; 出版日期：2018-05-30 出版单位：电器与能效管理技术 年：2018 期：No.547 语种：中文; 页：DYDQ201810020 页数：4 CN：10 ISSN：31-2099/TM 分类号：92-95

摘要

详细介绍了新版标准GB/T 18859—2016与旧版标准GB/Z 18859—2002之间的技术差异,并对技术差异所带来的影响做进一步的探究。可供相关技术人员参考,为低压成套开关设备和控制设备的设计、制造和检测认证提供技术支持。
        This paper introduced technical requirement differences between new edition standard GB/T18859—2016 and old edition standard GB/Z 18859—2002 in detail,and analyzed the influences caused by these differences.It made a useful reference for relevant technical staff,and provided technical support for designing,manufacturing and testing about low voltage switchgear and controlgear assemblies.

引文

[1]封闭式低压成套开关设备和控制设备在内部故障引起电弧情况下的试验导则:GB/T 18859-2016[S].
    [2]Enclosed low-voltage switchgear and controlgear assemblies-Guide for testing under conditions of arcing due to internal fault:IEC/TR 61641-2014[S].
    [3]封闭式低压成套开关设备和控制设备在内部故障引起电弧情况下的试验导则:GB/Z 18859-2002[S].
    [4]低压成套开关设备和控制设备第1部分:总则:GB/T 7251.1-2013[S].
    [5]Enclosed low-voltage switchgear and controlgear assemblies-Guide for testing under conditions of arcing due to internal fault:IEC/TR 61641-2008[S].