裂纹缺陷超声阵列识别方法研究
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摘要
裂纹是材料与结构中最常见、危害性最大的缺陷类型之一。同时,裂纹具有明显的方向性,当裂纹方向与结构承载相垂直时,裂纹的危害最大,结构极易发生突然断裂。因此,裂纹方向的识别具有重要的意义。本文在对裂纹缺陷进行全聚焦成像的基础上,通过对全阵列进行子阵列划分,提出了一种基于子阵列技术的裂纹缺陷方向识别方法—矢量全聚焦成像方法及基于散射系数分布的裂纹缺陷方向识别方法。研究了子阵列划分中子阵列间隔及子阵列数量对缺陷识别的影响,并将其应用于典型结构中裂纹缺陷方向识别。
引文