影响杂光测试仪的杂光因素分析
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- 论文作者：谷立山 ; 陈晓苹
- 年：2016
- 作者机构：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所;
- 会议召开时间：2016-09-25
- 会议录名称：第十六届全国光学测试学术交流会摘要集
- 语种：中文
- 分类号：TH74
- 学会代码：GNCS
- 会议名称：第十六届全国光学测试学术交流会
- 会议地点：中国上海
- 主办单位：中国光学学会光学测试专业委员会
- 学会名称：中国光学学会光学测试专业委员会
- 页数：1
- 文件大小：9766k
- 原文格式：D
- 会议级别：全国
摘要
<正>通常所说的杂光是杂散光的简称。根据光学成像规律,在像面内形成的像是有用的光线组成的,有用的光线仅由预定光谱范围来的辐射所形成的。光学系统设计所不需要的,但从物空间经过光学系统而进入到像面的光线称为杂散光。根据几何光学规律,没有或仅部分通过光学系统而进入像面的光线成为散射光。杂光也是影响成像质量的一项比较重要的指标。由于光学产品的快速发展,大口径、长焦距的光学系统的
引文