基于合成波长双曝光剪切散斑的三维变形测量
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- 论文作者：郭媛
- 年：2016
- 作者机构：齐齐哈尔大学计算机与控制工程学院;
- 会议召开时间：2016-09-25
- 会议录名称：第十六届全国光学测试学术交流会摘要集
- 语种：中文
- 分类号：TN248;TP391.41
- 学会代码：GNCS
- 会议名称：第十六届全国光学测试学术交流会
- 会议地点：中国上海
- 主办单位：中国光学学会光学测试专业委员会
- 学会名称：中国光学学会光学测试专业委员会
- 页数：1
- 文件大小：9765k
- 原文格式：D
- 会议级别：全国
摘要
<正>为实现工程环境下的三维变形测量,提出了一种基于双曝光剪切散斑的新方法。采用两个相同的合成波长激光器在对称位置作为双曝光光源,结合空间相移技术和图像处理方法,分别得到的面内位移和外的平面位移的一阶导数的一阶导数。通过使用合成波长激光器,可以有效地减少相位条纹密度,解决由于严重变形造成的干涉条纹过于密集而导致的欠采样问题。此外,该方法可以减少干扰条纹滤波和相位解缠的难
引文