基于S参数去嵌入修正技术的相控阵多通道T/R模块自动测试系统
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- 英文论文题名：Automatic Test System for T/R Module of Phased Array Based on S-Parameter De-Embedding Correction Technology
- 论文作者：苏斌 ; 马向峰
- 英文论文作者：SU Bin ; MA Xiang-feng ; China Airborne Missile Academy ; Aviation Key Laboratory of Science and Technology on Airborne Guided Weapons
- 年：2016
- 作者机构：中国空空导弹研究院;航空制导武器航空科技重点实验室;
- 论文关键词：T/R模块 ; S参数 ; 矩阵开关 ; 校准
- 英文论文关键词：T/R module ; S parameter ; matrix switch ; calibration
- 会议召开时间：2016-07-15
- 会议录名称：2016航空试验测试技术学术交流会论文集
- 语种：中文
- 分类号：TP274
- 学会代码：ZGHU
- 学会名称：中国航空学会
- 页数：3
- 文件大小：253k
- 原文格式：O
摘要
为了解决弹载相控阵多通道T/R模块测试项目繁多、效率低下、难于批量生产交付等问题,研制出了一种基于S参数去嵌入修正技术的自动化测试系统。该系统利用矩阵开关切换通道,自动对每个通道的接收、发射项目进行测试。每个通道测试时间小于1 min,发射功率和接收增益不确定度为0.7dB;发射和接收相位测试精度小于2°。
An automatic test system for T/R module of phased array based on S-parameter de-embedding correction technology is developed to solve the problems of various test projects,low efficiency,difficult to batch production.The system switches to the channel by using the matrix switch,and automatically tests on each channel.The test time of each channel is less than one minute.Test precision of transmitting and receiving phase is less than two degrees.
An automatic test system for T/R module of phased array based on S-parameter de-embedding correction technology is developed to solve the problems of various test projects,low efficiency,difficult to batch production.The system switches to the channel by using the matrix switch,and automatically tests on each channel.The test time of each channel is less than one minute.Test precision of transmitting and receiving phase is less than two degrees.
引文
[1]蒋晓红,李为玉,石慧.T/R组件自动测试系统的研制[J].测控技术,2008,27(2):11-12.
[2]田加胜.微波技术基础[M].武汉:华中科技大学出版社,2011.
[3]钱政,王中宇,刘桂礼.测试误差分析与数据处理[M].北京:北京航空航天大学出版社,2008.
[2]田加胜.微波技术基础[M].武汉:华中科技大学出版社,2011.
[3]钱政,王中宇,刘桂礼.测试误差分析与数据处理[M].北京:北京航空航天大学出版社,2008.