基于斜入射方法的面形绝对检测技术研究
详细信息    查看官网全文
摘要
<正>高功率激光装置对输出总能量以及光斑精准性要求使光学元器件向极致化方向发展,更高精度检测技术研究也要先行发展。随着大口径光学元件波面误差加工质量的不断提高,现有检测方法的精度已接近元件的加工精度,特别对于大口径干涉仪相对检测方法而言,干涉仪自身标准镜引入的系统误差不能再忽略,需要研究更高精度的方法来标定和消除。国内外的研究人员已提出了大口径平面干涉仪标准镜的绝对检测
引文

© 2004-2018 中国地质图书馆版权所有 京ICP备05064691号 京公网安备11010802017129号

地址:北京市海淀区学院路29号 邮编:100083

电话:办公室:(+86 10)66554848;文献借阅、咨询服务、科技查新:66554700