存储测试专用集成电路成测技术研究
摘要
本文主要讨论了存储测试专用集成电路的检测。对专用集成电路的功能、研制的意义以及专用集成电路的国内外现状进行了较为详细的介绍。文中提出了一种模拟数字混合、计算机人机交互的检测方法,根据ASIC的各功能模块,建立了相应的ASIC芯片的成测方案。在检测系统设计部分讨论了如适配器的设计、频率检测模块的设计等,同时对检测系统的软件进行了分析设计。在检测部分对集成电路的检测作了说明,利用设计的检测系统按照检测步骤对专用集成电路的全部参数成功进行了检测。文中还介绍了数字专用集成电路在存储测试领域的应用。对利用专用集成电路的存储测试系统进行了包括电荷放大器、模拟滤波器、电路抗干扰等的设计。采用专用集成电路HB0201设计的存储测试系统能独立地完成动态数据采集与存储记忆,能在多种恶劣环境及高难度的存储测试环境中使用。专用集成电路的使用减小了测试装置体积,降低了系统功耗,提高了测试系统的可靠性。HB0201与HB0202的研制提高了存储测试技术的水平,具有很高的实用价值。
此外,本论文还对使用CPLD器件作为存储测试系统的控制器进行了探讨,比较了两者的优缺点,介绍了今后研究的方向。
This paper mainly discusses the test of digital ASIC. The function of research on ASIC、its function and domestic and international state are introduced respectively. An analog-digital, human-computer interactive method of testing and measuring is proposed in this paper, measuring scheme of ASIC products is built. In test system design section, the design of adapter is discussed. In the meantime, the software used for test system is analyzed in the section. The test of ASIC is explained in test section. By the test system, all parameters of the ASIC are tested according to the test procedure successfully. In addition, the aging experiment is adopted to improve the dependability of the chip with correct function. At the same time, the dependability is analyzed in theory.
In this paper, the application of digital ASIC in the field of memory testing is also introduced. In the memory measurement system, the designs that include charge amplifier, analog filter, anti-jamming and so on are accomplished. The memory test system with HB0201 or HB0202 can effectively accomplish the sampling and memory of dynamic data independently. It can be used in various tough testing environments. The use of ASIC reduces the volume and power of tester, and moreover, its dependability is improved.
In addition ,this paper research the way of using CPLD as control and compare their advantage with disadvantage .At same time, research directions are pointed out in this paper.
此外,本论文还对使用CPLD器件作为存储测试系统的控制器进行了探讨,比较了两者的优缺点,介绍了今后研究的方向。
This paper mainly discusses the test of digital ASIC. The function of research on ASIC、its function and domestic and international state are introduced respectively. An analog-digital, human-computer interactive method of testing and measuring is proposed in this paper, measuring scheme of ASIC products is built. In test system design section, the design of adapter is discussed. In the meantime, the software used for test system is analyzed in the section. The test of ASIC is explained in test section. By the test system, all parameters of the ASIC are tested according to the test procedure successfully. In addition, the aging experiment is adopted to improve the dependability of the chip with correct function. At the same time, the dependability is analyzed in theory.
In this paper, the application of digital ASIC in the field of memory testing is also introduced. In the memory measurement system, the designs that include charge amplifier, analog filter, anti-jamming and so on are accomplished. The memory test system with HB0201 or HB0202 can effectively accomplish the sampling and memory of dynamic data independently. It can be used in various tough testing environments. The use of ASIC reduces the volume and power of tester, and moreover, its dependability is improved.
In addition ,this paper research the way of using CPLD as control and compare their advantage with disadvantage .At same time, research directions are pointed out in this paper.
引文
[1] 祖静,申湘南,张文栋,存储测试技术,测试技术学报,1994 年第 8 卷第 2 期
[2] 高德远,超大规模集成电路——系统和电路的设计原理,高等教育出版社,2003
[3] Dan Strassberg, ASIC TEST :IT'S A NEW BALL GAME ,Senior Technical Editor,Reprinted from EDN, September 29, 1994
[4] D.Sheppard, ACDTEST2 ASIC Test Report
[5] 王勇佳,达力,沈铎,一种专用集成电路测试系统,杭州电子工业学院学报,第19 卷第 3 期,1999 年 9 月
[6] 王玲,任恭海,高德远,一种专用集成电路功能测试仪的设计与实现,西北工业大学学报 1997年11月第15卷第4期
[7] 申湘南,祖静,王俊杰,雷华明,存储测试专用集成电路的检测技术,华北工学院测试技术学报,2000 年第 14 卷专刊
[8] Kevin Rowley, ASIC/FPGA market share ,www.xilinx.com, June 2000
[9] 郭永基,可靠性工程原理,清华大学出版社,2002
[10] http://www.colemantech.com/images/ASIC/asic_test_system.htm
[11] 陈爱萍,张深基,数字系统设计与 ASIC 技术,电力系统及其自动化学报,第 13卷第 2 期 2001 年 4 月
[12] 杨军,SOC 中的可测性设计技术,东南大学硕士论文,2001
[13] 张文栋.存储测试系统的设计理论及其应用.北京:高等教育出版社 2002.11
[14] 马宝华.现代引信设计哲学.现代引信.1993.4
[15] 王远,模拟电子技术,机械工业出版社,1993 年,
[16] 于英民,计算机接口技术,电子工业出版社,1996
[17] 张瑜,高精度电荷校准仪的研究及动态测试专用集成电路的检测与应用,华北工学院硕士学位论文,2004
[18] 孟立凡,郑宾,传感器原理及技术,兵器工业出版社,2000.
[19] 郑君里.信号与系统.高等教育出版社.2000
[20] 自动检测电子电路设计,太原机械学院翻印,1989.
[21] 朱明武,李永新.动态测量原理.北京:北京理工大学出版社.1993
[22] 诸邦田,电子线路抗干扰技术手册,北京科学技术出版社,1988.
[23] MAXIM Engineering Journal,第 49 期
[24] 付家才.电子工程实践技术.北京:化学工业出版社教材出版中心出版 2003.9
[25] 李东红,侵彻加速度存储测试系统的研究及其信号处理与分析,华北工学院硕士学位论文,2004
[26] 梁恩主,Protel 99 SE 电路设计与仿真应用,清华大学出版社,2000
[26] 朱明武,压力准静态校准技术,宇航计测技术,2004.4
[27] 吴京燕、陈大为,数字集成电路测试设备量值溯源技术研究,国外电子测量技术,2000 增刊
[28] 黄俊钦,测试系统动力学,国防工业出版社,1996
[29] 王效平,刘捷臣,集成电路进入片上系统时代,微处理机,第1期2000年2月
[30] Bursly D.,The system-on-a-chip:it,s not just a dream anymore [J].Elec Des.1997;13(10):105—118.
[31] 徐善锋,初秀琴,李玉山,来新泉,21世纪微电子芯片设计技术发展方向,微电子学,第31卷第5期2001年10月
[2] 高德远,超大规模集成电路——系统和电路的设计原理,高等教育出版社,2003
[3] Dan Strassberg, ASIC TEST :IT'S A NEW BALL GAME ,Senior Technical Editor,Reprinted from EDN, September 29, 1994
[4] D.Sheppard, ACDTEST2 ASIC Test Report
[5] 王勇佳,达力,沈铎,一种专用集成电路测试系统,杭州电子工业学院学报,第19 卷第 3 期,1999 年 9 月
[6] 王玲,任恭海,高德远,一种专用集成电路功能测试仪的设计与实现,西北工业大学学报 1997年11月第15卷第4期
[7] 申湘南,祖静,王俊杰,雷华明,存储测试专用集成电路的检测技术,华北工学院测试技术学报,2000 年第 14 卷专刊
[8] Kevin Rowley, ASIC/FPGA market share ,www.xilinx.com, June 2000
[9] 郭永基,可靠性工程原理,清华大学出版社,2002
[10] http://www.colemantech.com/images/ASIC/asic_test_system.htm
[11] 陈爱萍,张深基,数字系统设计与 ASIC 技术,电力系统及其自动化学报,第 13卷第 2 期 2001 年 4 月
[12] 杨军,SOC 中的可测性设计技术,东南大学硕士论文,2001
[13] 张文栋.存储测试系统的设计理论及其应用.北京:高等教育出版社 2002.11
[14] 马宝华.现代引信设计哲学.现代引信.1993.4
[15] 王远,模拟电子技术,机械工业出版社,1993 年,
[16] 于英民,计算机接口技术,电子工业出版社,1996
[17] 张瑜,高精度电荷校准仪的研究及动态测试专用集成电路的检测与应用,华北工学院硕士学位论文,2004
[18] 孟立凡,郑宾,传感器原理及技术,兵器工业出版社,2000.
[19] 郑君里.信号与系统.高等教育出版社.2000
[20] 自动检测电子电路设计,太原机械学院翻印,1989.
[21] 朱明武,李永新.动态测量原理.北京:北京理工大学出版社.1993
[22] 诸邦田,电子线路抗干扰技术手册,北京科学技术出版社,1988.
[23] MAXIM Engineering Journal,第 49 期
[24] 付家才.电子工程实践技术.北京:化学工业出版社教材出版中心出版 2003.9
[25] 李东红,侵彻加速度存储测试系统的研究及其信号处理与分析,华北工学院硕士学位论文,2004
[26] 梁恩主,Protel 99 SE 电路设计与仿真应用,清华大学出版社,2000
[26] 朱明武,压力准静态校准技术,宇航计测技术,2004.4
[27] 吴京燕、陈大为,数字集成电路测试设备量值溯源技术研究,国外电子测量技术,2000 增刊
[28] 黄俊钦,测试系统动力学,国防工业出版社,1996
[29] 王效平,刘捷臣,集成电路进入片上系统时代,微处理机,第1期2000年2月
[30] Bursly D.,The system-on-a-chip:it,s not just a dream anymore [J].Elec Des.1997;13(10):105—118.
[31] 徐善锋,初秀琴,李玉山,来新泉,21世纪微电子芯片设计技术发展方向,微电子学,第31卷第5期2001年10月