嵌入式系统在SPI FLASH存储器测试中的应用
摘要
本课题首先对半导体器件的测试概念进行了介绍,从半导体测试系统的种类及其自动测试系统设备和SPI FLASH存储器测试方法三个方面入手分别对存储器测试系统、模拟器件测试系统、混合信号测试系统、数字信号测试系统、测试设备内部结构、测试通道、存储器结构及器件的DC测试、AC测试及功能测试等方面进行了详细研究和讨论。
在国外测试技术的垄断下,半导体测试成本几乎占据了整个芯片制造成本的一半,为了满足企业对成本控制的需要,研究和设计出一种成本低廉,测试性能可靠的软硬件测试平台显得尤为重要。根据对国内外现有的半导体测试机台已有技术及嵌入式系统软硬件技术的研究,进行了基于模块化PMU芯片AD5522及快速ADC芯片AD7685构成的DC参数测试模块的电路设计。并基于ARM技术及嵌入式实时系统设计实现了测试控制板及简易分选器的控制硬软件,最后根据FLASH的失效模式分析总结归纳出FLASH的失效模型,根据失效模型建立和讨论了FLASH的功能测试算法。
The subject of the first test of the concept of semiconductor devices are described, from the type of semiconductor test systems and automatic test system equipment and SPI FLASH memory and test methods were three aspects to start the memory test system, test system analog, mixed-signal test systems, digital signal test system, the internal structure of test equipment, test channel, memory structures and devices of DC testing, AC testing and functional testing and other aspects of the detailed study and discussion. The monopoly of foreign technology in the next test, semiconductor test costs accounted for almost half the cost of the entire chip, in order to satisfy the need for cost control, research and design a low-cost, reliable hardware and software test platform is particularly important to test. Based on existing domestic and international semiconductor test machine has embedded software and hardware technology and technology research, the PMU chip based on modular and fast ADC AD5522AD7685chip module consisting of DC parametric test circuit design. Based on ARM technology and embedded real-time systems design and implementation of the test panel and easy separation of the control hardware and software, the final failure mode analysis based on the FLASH FLASH summarized the failure model, based on model building and discussed the failure of FLASH function test algorithm.
在国外测试技术的垄断下,半导体测试成本几乎占据了整个芯片制造成本的一半,为了满足企业对成本控制的需要,研究和设计出一种成本低廉,测试性能可靠的软硬件测试平台显得尤为重要。根据对国内外现有的半导体测试机台已有技术及嵌入式系统软硬件技术的研究,进行了基于模块化PMU芯片AD5522及快速ADC芯片AD7685构成的DC参数测试模块的电路设计。并基于ARM技术及嵌入式实时系统设计实现了测试控制板及简易分选器的控制硬软件,最后根据FLASH的失效模式分析总结归纳出FLASH的失效模型,根据失效模型建立和讨论了FLASH的功能测试算法。
The subject of the first test of the concept of semiconductor devices are described, from the type of semiconductor test systems and automatic test system equipment and SPI FLASH memory and test methods were three aspects to start the memory test system, test system analog, mixed-signal test systems, digital signal test system, the internal structure of test equipment, test channel, memory structures and devices of DC testing, AC testing and functional testing and other aspects of the detailed study and discussion. The monopoly of foreign technology in the next test, semiconductor test costs accounted for almost half the cost of the entire chip, in order to satisfy the need for cost control, research and design a low-cost, reliable hardware and software test platform is particularly important to test. Based on existing domestic and international semiconductor test machine has embedded software and hardware technology and technology research, the PMU chip based on modular and fast ADC AD5522AD7685chip module consisting of DC parametric test circuit design. Based on ARM technology and embedded real-time systems design and implementation of the test panel and easy separation of the control hardware and software, the final failure mode analysis based on the FLASH FLASH summarized the failure model, based on model building and discussed the failure of FLASH function test algorithm.
引文
[1]徐千洋Linux C函数库参考手册.[M]北京：中国青年出版社.2002
[2]陈峰,孙志月MODEM通信编程技术[M].西安：西安电子科技大学出版社.1998
[3]李现勇.Visual C++串口通信技术与工程实践[M].北京：人民邮电出版社.2004
[4]何小平.选择适合ARM的嵌入式操作系统[J]. BMRfech Inc.2003
[5]马忠梅,马广云,徐英慧,田译.ARM嵌入式处理结构与应用基础[M].北京：北京航空航天大学出版社.2002
[6]邹思铁.嵌入式Linux设计与应用[M].北京：北京清华大学出版社.2002
[7]杜春雷.ARM体系结构与编程[M].北京：清华大学出版社.2003
[8]Kirk Zurell[M].C Programing For Embedded Systems
[9]杨海清,周安栋,罗勇,陈牧.嵌入式系统实时网络通信中的LCD显示设计方法[J].计算机与数字工程.2010年02期
[10]田泽.嵌入式系统开发与应用[M].北京：北京航空航天大学出版社.2005
[11]陈鑫.嵌入式软件技术的现状与发展动向[M].软件世界.2001
[12]田泽.嵌入式系统开发与应用实验教程[M].北京：北京航空航天大学出版社.2004
[13]Alessandro Rubini, Jonathan Corbet.Linux设备驱动程序[M].北京：中国电力出版社.2002
[14]Mark Burns混合信号集成电路测试与测量,北京：电子工业出版社2001
[15]赵英伟庞克俭Kelvin四线连接电阻测试技术及应用《半导体技术》2005年11
[16]轩涛基于ATE的DSP测试方法[期刊论文]-电子测试2010(2)
[17]魏丽芹浅谈智能集成电路测试仪[期刊论文]-科协论坛(下半月)2009(12)
[18]高剑存储器并行测试方法[期刊论文]-电子测试2009(2)
[19]高剑.郭士瑞.蒋常斌FLASH存储器的测试方法[期刊论文]-电子测量技术2008(7)
[20]赵雪莲微控制器测试向量生成方法的研究和实现[学位论文]硕士2006
[21]朱瑜一种大规模集成电路测试方法[学位论文]硕士2006
[22]马秀莹新型超大规模集成电路(VLSI)直流参数自动测试系统[学位论文]硕士2005
[23]高剑.刘明亮基于DSP的存储器测试系统[期刊论文]-中国计量学院学报2004(4)
[24]数字集成电路测试系统的研制电子技术应用2001年4期
[25]黄昆,韩汝琦.半导体物理基础, 北京：电子工业出版社,1979
[26]胡德宝.群论与固体能带结构.长春：吉林人民出版社,1991
[27]刘文明.半导体物理雪.长春：吉林人民出版社,1982
[28]刘恩科,朱秉升等.半导体物理学.西安：西安交通大学出版社,1998
[29]李宝刚深亚微米移动多媒体处理器的节电技术[学位论文]硕士2009-01-01
[30]叶佳慧NOR闪存读出不稳定性问题的研究与解决[学位论文]硕士2009-10-01
[31]刘艳高性能处理器电流测试研究[学位论文]硕士-2010-10-01
[32]靖向萌MEMS探卡的设计及制备工艺研究[学位论文]硕士2008-07-01
[33]王曼雨存储器测试算法与实现 [学位论文]硕士-2009-03-01
[34]高学提高测试效率新方案的研究 [学位论文]硕士-2010-04-20
[35]徐巍基于ARM9的嵌入式图像采集系统的设计[学位论文]硕士-2009-05-01
[36]宁康多通道高精度集成电路直流参数测试[学位论文]硕士-2010-04-01
[37]谭先峰基于无线通信的轮胎温度采集系统研制-[学位论文]硕士-2010-04-20
[38]刘艳高性能处理器电流测试研究-[学位论文]硕士-2010-10-01
[39]高学提高测试效率新方案的研究-[学位论文]硕士-2010-04-20
[40]秦书波无线传感器网络分簇路由及基于ARM节点设计的研究-[学位论文]硕士-2007-01-01
[41]SPI-SP CP-飞象通信百科-WIKI.CCTIME.COM《网络(http://wiki.cctime.c) 》
[42]高剑基于TIGERSHARC DSP的存储器的高速测[学位论文]硕士-2004-05-01
[43]王焱基于并行DSP的VLSI功能测试研究[学位论文]硕士-2005-05-01
[44]张必超存储器测试技术及其在质量检验中的应用研[学位论文]硕士-2005-11-10
[45]汪国有程伟μ C/OS-Ⅱ在S3C2410上的移植；-《计算机与数字工程》-2007-04-20
[46]干开峰丁健基于ARM9的μ C/OS-Ⅱ实时操作系统移植研究 《巢湖学院学报》-2008-11-25
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[45]汪国有程伟μ C/OS-Ⅱ在S3C2410上的移植；-《计算机与数字工程》-2007-04-20
[46]干开峰丁健基于ARM9的μ C/OS-Ⅱ实时操作系统移植研究 《巢湖学院学报》-2008-11-25