VXI总线自动测试台硬件系统的设计与开发
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摘要
本文以研究飞行管理计算机（FMC）的自动测试台为主，探讨了基于VXI总
线系统的自动测试技术。
从可维护性角度对FMC进行深入分析，介绍了FMC测试原理及内嵌测试
的作用，着重分析了FMC接口信号特征及其在测试中的作用。
在研究VXI测试总线技术的基础上设计了本测试系统的硬件总体方案，
针对FMC测试供求信号分析结果，提出了各子系统模块的功能，并参照VXI
机箱结构，设计了转接机箱。在分析和研究EISA和PCI总线的基础上，提出
了无源底板总线信号分布的方法，依据系统控制及可靠性的需要，进一步规定
了地址识别、转接控制及回绕控制的功能及信号逻辑关系。采用自检回绕思想，
给出各转接电路板详细设计原理，并以离散量输入转接板设计为例给出了电路
设计原理图。
最后介绍了系统的可靠性设计，对部分实验结果作了分析。
This dissertation focused mainly on the research of an automatic test stand for
Flight Management Computer (FMC), and some test technique based on VXI bus
system was discussed.
First, the testing principle and the functions of Built In Test (BIT) of FMC were
introduced, as well as their functions in testing of the FMC interface were analyzed
in detail.
Then, the general design plan of the hardware system for the test stand was
made on the base of some researches of VXI bus techniques. With respect of the
analysis results of the input and output signals of FMC , the functions of each
subsystem module were proposed, and the frame of each subsystem module were on
reference of the VXI structure. According to the bus signal distribution rule of EISA
and PCI , the bus signal distribution method of the no source motherboard of the
switching box was proposed, and the address identification, switching control and
back-loop self test control were specified to meet the needs of system control and
reliability.
Finally, the detailed principle design for each switching board was given, and
the circuit schematic drawing of discrete input switching board was presented. The
reliability design and some experimental result analysis were made on conclusion.
线系统的自动测试技术。
从可维护性角度对FMC进行深入分析，介绍了FMC测试原理及内嵌测试
的作用，着重分析了FMC接口信号特征及其在测试中的作用。
在研究VXI测试总线技术的基础上设计了本测试系统的硬件总体方案，
针对FMC测试供求信号分析结果，提出了各子系统模块的功能，并参照VXI
机箱结构，设计了转接机箱。在分析和研究EISA和PCI总线的基础上，提出
了无源底板总线信号分布的方法，依据系统控制及可靠性的需要，进一步规定
了地址识别、转接控制及回绕控制的功能及信号逻辑关系。采用自检回绕思想，
给出各转接电路板详细设计原理，并以离散量输入转接板设计为例给出了电路
设计原理图。
最后介绍了系统的可靠性设计，对部分实验结果作了分析。
This dissertation focused mainly on the research of an automatic test stand for
Flight Management Computer (FMC), and some test technique based on VXI bus
system was discussed.
First, the testing principle and the functions of Built In Test (BIT) of FMC were
introduced, as well as their functions in testing of the FMC interface were analyzed
in detail.
Then, the general design plan of the hardware system for the test stand was
made on the base of some researches of VXI bus techniques. With respect of the
analysis results of the input and output signals of FMC , the functions of each
subsystem module were proposed, and the frame of each subsystem module were on
reference of the VXI structure. According to the bus signal distribution rule of EISA
and PCI , the bus signal distribution method of the no source motherboard of the
switching box was proposed, and the address identification, switching control and
back-loop self test control were specified to meet the needs of system control and
reliability.
Finally, the detailed principle design for each switching board was given, and
the circuit schematic drawing of discrete input switching board was presented. The
reliability design and some experimental result analysis were made on conclusion.
引文
[1] 吕毅清， 《新一代的航空电子自动测试设备》， 《国外电子测量技术》 2000年第1期
[2] 张世萁等编， 《自动测试系统》，电子科技大学出版社 1994年
[3] 孙家琪编， 《自动测试系统》，机械工业出版社
[4] 孙续编， 《自动测试系统与可程控仪器》，电子工业出版社
[5] 陈光禹编著， 《VXI总线测试平台技术》， 电子科技大学出版社1996 年10月
[6] 张月亲，《建立自动化测试系统的必要性》， 《国外电子测量技术》2000 年第6期
[7] 《浅淡军用ATE标准化问题》，国外电子测量技术，1997年3月
[8] 汪宝璋，李洁编著，《实用电子电路手册》，科技技术文献出版社，1992 年9月
[9] 刘芳，王兰波，雷渭侣，《基于VXI总线的计算机遥感系统的设计》，《现 代计算机》1999年第10期
[10] 孙文斌，喻其山，杨小平，《通过GPIB接口实现数字存储示波器与微机 之间通讯》， 《安徽师大学报》，1998年第9期，Vol．21，No.3
[11] 陈皓，程鹏，熊时泽，《电子测试仪器的发展趋势》， 《计算机自动测 量与控制》1997年第2期
[12] 陈光禹，《电子测试技术发展展望》， 《计算机自动测量与控制》1998 年第2期
[13] 刘胜利，刘亚卿，冯锡智， 《VXI系统是电子装备最优化的自动测试 系统结构》，《计算机自动测量与控制》1998年第2期
[14] 封吉平，张宏伟，蔡金燕， 《基于数据库通用自动测试系统》，《计算 机自动测量与控制》1998年第4期
[15] 彭华林，欧青立，李仁发，《虚拟现实技术在电子技术与测试中的应用》， 《湘潭矿业学院学报》1998年6月， Vol．13，No.2
[16] 付永生，宋云波，张鲁仲， 《LCR微机自动测试系统》， 《山东电子》 1998年第3期
[17] 王宝香， 《数字电压表自动测试系统》， 《宇航计测技术》1998年2 月，第18卷，第1期
[18] 韩小涛，李启炎，王宇，吕玲，王勤，《虚拟仪器在互感器自动校验装 置中的应用与研究》，《电测与仪表》2000年7月
[19] 鲍芳，冯燕， 《基于PCI/PXI／VXI总线的虚拟仪器测试系统》， 《工 业仪表与自动化装置》2000年第3期
[20] 李锋，冯震，李庆波， 《VXI总线系统控制方式的选择》，《电测与仪 表》2000年第4期
[21] 何凤艳， 《怎样选择VXI总线系统控制方式》， 《国外电子测量技术》， 2000年第1期
[22] 薛红朝，孟晨，王坚，《虚拟仪器技术在某型导弹VXI总线自动测试系 统中的应用》， 《国外电子测量技术》2000年第2期
[23] Smiths Industries, FMC701 Component Maintenance Manual
[24] Smiths Industries, FMC Component Maintenance Manual
[25] National Instruments Corporation, Getting Started With LabWindows/CVI
[26] National Instruments Corporation,VXI-DIO-128 User Manual-Digital I/O Module for VXIbus, July 1996 Edition
[27] ational Instruments Corporation, DD429 VME/VXI Card User Manual, July 1996 Edition
[28] Hewlett-Packard Company, HP E1458A 96-Channel Digital I/O Module-User's Manual and SCPI Programming Guide, 75000 Series C
[29] Hewlett-Packard Company, HP E1312A and HP E1314A 6 1/2-Digit Multimeter-User's Manual and SCPI Programming Guide, 75000 Series B/C
[30] Hewlett-Packard Company, Universal Counter HP E1420B User Manua
[31] Hewlett-Packard Company, HP BASIC 6． 2 Condensed Reference
[32] IEEE Standard For VMEbus Extension For Instrumentation: VXIbus. IEEEstd 1155-1992,1993． 9． 20 Published by IEEE.
[33] Kevin Leduc, Racal Instrument, A VXI Solution for Multi-Use Power Supply ATE, VXI Test, April 1999
[34] Loofie A. Gutterman, Reconfigurable COTS Test Systems, IEEE AES Systems Magazine, April 2000
[35] Jud Strock, Technical Editor, The Transparent Devices In your ATE, Switching Systems, Feb. 2000
[36] Gil Bassak, Shared Memory Melds Teser's Daul Controllers, Test & Measurement World, May 1999
[37] Jon Titus, VXIbus Mezzanine Modules Maximize I/O and Function Choices, Test & Techniques, August 2000
[38] Martin Rowe, Senior Technical Editor, Control Instruments with a Web Browser, Test & Measurement World, Sep 2000
[39] Nancy Holland, Automated Instruments Smooth Rapid Test System Development, Test & Measurement World, August 2000
[40] Bruce Fuller, Connect Instruments to the Corporate Network, Test Tips & Techniques, May 2000
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[40] Bruce Fuller, Connect Instruments to the Corporate Network, Test Tips & Techniques, May 2000