AIP脉冲偏压电源及等离子体诊断系统的设计与应用研究
详细信息    本馆镜像全文|  推荐本文 |  |   获取CNKI官网全文
摘要
电弧离子镀以其离化率高沉积速度快、膜层致密、膜基结合力强、绕镀性好等优点,已发展成为世界范围的一项高新技术产业。为了扩大电弧离子镀的基材范围和用电弧离子镀设备制备出内应力较低的更厚镀层以及其它类型应用的高性能镀层,随着脉冲功率技术的发展,一种脉冲负偏压工艺开始用于电弧离子镀技术。但是由于目前国内用于电弧离子镀的脉冲负偏压电源比较少,并且表征脉冲电源特性的f和D参数大都固定,只有电压可调,为此开发一种各种参数灵活可调的脉冲电源显得尤为重要。另一方面,为了实时了解电弧等离子体反应器内的情况,给出等离子体的各种特性参数,开发一套自动化程度比较高的等离子体诊断系统也势在必行。本论文对这两方面的问题作了研究,主要完成了以下工作:
     1.本论文提出了主电路部分先逆变后斩波,输出部分为四路IGBT相互串联叠加的设计方案,经过实际使用证明,该方案可以做到在一定范围内灵活调节偏压电源输出的各种参数。
     2.运用高集成度高速度的单片机,高压高功率放大器,以及高速D/A、A/D转换电路,设计完成由输出幅度为±100V,输出频率在400Hz~20KHz范围内可调的智能等离子体诊断电源和基于ISA插槽的采样率为1MHz,精度为12位的双通道数据采集卡组成的诊断系统。
     3.应用设计的电源和诊断系统,在俄产Bulat6型设备上进行试验。首次诊断出在正常镀膜条件下,电弧镀等离子体的电子温度,离子密度、等离子体空间电位。并相应的算出了等离子体鞘层厚度及由鞘层引起的电容。
     经过对直流偏压和脉冲偏压两种工艺下合成的TiN薄膜的各项性能测试结果表明,脉冲偏压工艺下合成的薄膜品质优良,电源输出脉冲参数的调整和等离子体状态的诊断为工艺的稳定实施提供了很好的保障。设计达到了预定的设计目标。
Arc ion plating (AIP) has played an important role in the synthesize solidness film on the mechanical processing tools, it is developing a high technology industry in the whole world because of its advantages such as high ionizing efficiency, fast deposition speed, good density of cladding material, better cementing property between film and backing material etc. In order to expand the kind of backing material and produce thick film (>50um) of low inner stress and other high performance film, a pulsed negative bias voltage technique is using in the AIP craft along with the developing of pulsed power technology. In our country, on the one hand, there are few pulsed negative bias voltage power supplies, on the other hand the characterization parameters such as duty cycle and frequency are fixed, only the output voltage is adjustable. So it is important to develop a pulsed negative bias voltage power supply whose characterization parameters are all adjustable. In order to monitor the inner of the Arc plasma rea
    ctor at real-time, and then present the characteristic parameter of Arc plasma online. It is necessary to develop an automatic plasma diagnostic system. In this paper, these two questions are studied and the following work is completed.
    1. This paper proposes a design option that main circuit part includes of inversion unit first and then the chopped wave unit, the output contacts the plan of design superposed each other for four routes of IGBT, by actually using proved that the scheme is possible to regulate various kinds of parameters within the specific limits flexible of the bias voltage power supply outputted actually.
    2. Using the high integrated level single-chip microcomputer at a high speed, the high power amplifier of high voltage, and D/A, A/D circuits at a high conversion rate, a intellectual plasma diagnose system is designed. The system includes a saw-tooth power supply which output voltage range is ?100 V, output frequency is adjustable from 400 Hz to 20 KHz, and a dual channel DAQ card on the basis of ISA slot with 1MHz sample rate and 12bit sample precision.
    3. To experiment on the Model Bulat6 equipment from Russia by using the designed power supply and diagnosis system, the numerical value of electronic temperature, density of ion and plasma space electric potential is diagnosed for the first time under the normal plating condition. And corresponding the thickness of sheath of plasma and the capacitance caused by the sheath are calculated.
    Through test of every performance of TiN films that result of direct current bias voltage and pulse bias voltage, this paper finds that the membrane formatted under the craft of bias voltage of the pulse is in best quality. The adjustment of pulsed power supply output and plasma diagnosis of state of parameter have offered kind guarantee for steady implementation of the craft. This design reachs the design object booked.
引文
[1] M.D. Mattox, J. Appl. Phys., 1963,34:2493~2498;
    [2] D.L.Chamber, D.C. Carmichael, R/D Magazine, 1971, 32:22~26;
    [3] R.F. Bunshah and A.C. Ranghuram, Activated reactive evaporation progress for high rate deposition of compounds, J. Vac. Sci. Technol., 1972, 9:1385~1388;
    [4] J.R.Morley and H.R.Smith, high rate ion production for vacuum deposition, J. Vac. Sci. Technol., 1972, 9:1377~1378;
    [5] S.Komiya and K.Tsuruoka, Japan J. Appl. Phys. Suppl.j 2, 1974, Pt.1:415~420;
    [6] Y. Mulayama, K. Mashimoto, Equipment of radio frequency ion plating, Applied Physics, 1974,42:687~691;
    [7] W. Olbrich, J. Fessmann, G. Kampschulte and J. Ebberink, Improved control of TiN coating properties using cathodic arc evaporation with a pulsed bias, Surf. Coat. Technol., 1991, 49:258~262;
    [8] 汪泓宏,田民波,离子束表面强化技术,北京:机械工业出版社,1991:68;
    [9] 陈宝清,朱英臣,王斐杰,王玉魁,磁控溅射离子镀技术和铝镀膜的组织形貌、相组成及新相形成物理冶金过程的研究,热加工工艺,1984,5:42~49;
    [10] 张祥生,离子镀膜—— 一种全新的镀膜技术,真空技术,1979,1:54~67;
    [11] 王祥春,国外中空热阴极放电离子镀技术现状,材料保护,1982,3:26~36;
    [12] 田民波,真空应用,1985,2:6~9;
    [13] 毛德才,离子镀技术,新技术新工艺,1983,1:25~29;
    [14] 闻立时,黄荣芳,离子镀硬质薄膜的最新进展和展望,TFC99全国薄膜学术讨论会会议论文:34~44;
    [15] I. Langmuir and H.M. Mott-Smith, Gen Elec. Rev.,1923, vol. 26: 732: 1924, vol. 27 : 449,558,616,726 and 810;
    [16] 甄汉生 等离子体加工技术 清华大学出版社 北京 1990;
    [17] Guoqiang LIN, Zhenfeng DING, Dong QI, Ninghui WANG, Meidong HUANG, Dezhen WANG, Younian WANG, Chuang DONG, Lishi WEN, Fundamental problems in pulsed-bias arc deposition, ACTA Metallurgica Sinica (English Letters ),Vol. 15 No. 1, February 2002:91~103,:
    [18] 赵万生,宋博岩,狄士春,何永辉 逆变式电火花加工脉冲电源的研究 哈尔滨工业大学学报 Vol.29,No.6 Dec.1997:112~115;
    [19] 戴育航,钱照明IGBT脉冲电源系统的设计与研究电力电子技术1998年第4期:67~71;
    [20] 陈采风,韩兴苗,韩刚峰,沈振锋 开关型脉冲电源 Electroplating and Pollution Control Vol.21 No.5 Sep.2001:32~33;
    [21] 李爱文,张承慧 现代逆变技术及其应用 科学出版社 北京 2000
    [22] 刘胜利 现代高频开关电源实用技术 电子工业出版社 北京 2001;
    [23] 张微,柳梁 TL494 及其在开关稳压电源中的应用 仪表技术 2000年第4期:44~45;
    
    
    [24] 杨晶琦 电力电子器件原理与设计 国防工业出版社 北京 1999;
    [25] 李冠一 IGBT驱动器的分析与选择 上海冶金高等专科学校学报,Vol 20 No.2 1999:103~106;
    [26] 盛祖权,张立IGBT模块驱动及保护技术 电焊机,Vol.30,2000 11:6~13;
    [27] 熊腊森,刘长友IGBT驱动保护电路EXB841与M57959L的研究 电焊机,Vol.30,2000 11:29~31;
    [28] 朱锦洪,丁诘,梁文林,刘兆魁,史耀武 IGBT驱动电路的应用与改进技术 洛阳工学院学报 Vol.20 No.1 Mar.1999:10~13;
    [29] 亓迎川,朱仲尼,张国安,牛全民 IGBT驱动模块的用法改进电焊机,Vol.28,No.6 1998:39~40;
    [30] 贾好来 EXB841 对 IGBT 的过流保护研究 太原理工大学学报 Vol.30,No.6 Nov.1999:610~613;
    [31] 富士公司.用于IGBT的富土混合IC驱动器使用手册;
    [32] Grill Alfred 1993 Cold Plasma in Materials Fabrication—From Fundamentals to Applications(New York:IEEE Press):14;
    [33] 田民波 刘德令 薄膜科学与技术手册 上册 清华大学出版社 北京 1991:486~492;
    [34] 甄汉生 等离子体加工技术 清华大学出版社 北京 1990;
    [35] 金佑民 高温测量中的探针技术 北京 中国计量出版社 1988;
    [36] 林揆训,林学瑛,余云鹏,王洪,胡盛明 langmuir 探针的中毒效应及其抑制功能材料 第27卷 第5期 1996:392~395;
    [37] 程仲元,邹积岩,杨磊,张汉明 朗谬尔探针用于VAC等离子体诊断的初步研究应用科学学报 第14卷 第4期 1996:475~480;
    [38] 李争显,张树林,袁哲,田华平 多弧离子镀中真空等离子体静电探针诊断方法研究 真空 第4期 1994:25~29;
    [39] 林揆训,余云鹏,林学瑛,王洪 射频辉光放电等离子体的电探针诊断核聚变与等离子体物理 第14卷 第1期 1994:56~64;
    [40] 林揆训,石旺舟,王洪 射频辉光放电等离子体的诊断汕头大学学报(自然科学版)第12卷 第1期 1997:19~21;
    [41] 岳斌,韩隆恒,杨富荣 电弧等离子体射流光谱学诊断系统及软件气动实验与测量控制 第9卷 第1期1995:79~82;
    [42] 邹积岩,杨磊,程仲元,张汉明 真空电弧镀膜等离子体参数的测量微细加工技术 第1期 1997:70~75;
    [43] 池凌飞,林揆训,林学瑛,余云鹏,余楚迎 等离子体的Langmuir探针诊断及数值滤波 真空 第6期 1999:20~25;
    [44] 李刚 林凌 与8051兼容的高性能、高速单片机-C8051FXXX 北京航空航天大学出版社2002 5;
    [45] 比高科技公司 HD7279资料手册;
    [46] 王福瑞 单片微机测控系统设计大全 北京 北京航空航天大学出版社 2001;
    [47] 李华 MCS-51 系列单片机使用接口技术 北京 北京航空航天大学出版社 1996;
    
    
    [48] 徐科军,陈荣保,张崇巍 自动监测和仪表中的共性技术北京 清华大学出版社 2000;
    [49] 于继洲 集成A/D和D/A转换器应用技术 国防工业出版社 北京 1992;
    [50] 美J.L希尔本D.E.约翰逊 有源滤波器设计手册 地质出版社 北京 1980
    [51] Apex Microtechnology.Power Integrated Circuit Data Book Volume 10;
    [52] 杨建华,侯宏,王磊,陈楸 采用DMA技术的真实并行多路高速数据采集系统数据采集与处理 Vol.17 No.1 Mar.2002:77~80;
    [53] 尚志恩 双通道高速数据采集系统的设计 河北师范大学学报(自然科学版) Vol. 25 No.2 June. 2001: 179~180;
    [54] 李涛,张承学,胡志坚 基于ISA总线的高速同步数据采集系统设计电子技术应用2000年 第4期:20~22;
    [55] 李曼 多通道高速数据采集电路设计 西安科技学院学报 Vol.20 No.2 Jun.2000:144~147;
    [56] 赵智宏,王庆琪,倪奇志,戴兵 基于P C机的双通道高速数据采集系统实验室研究与探索 1998年 第6期:40~42;
    [57] 马永杰,杨志民100MHz高速数据采集卡研制中关键技术的探讨 西北师范大学学报(自然科学版)Vol.35 No.1 1999:37~42;
    [58] 郭世平,黄良璧,钟毓宁,12位3M高速数据采集系统的研制现代计量测试2000年第2期:37~40;
    [59] 蒋志峰,蒋伟峰,刘济林 基于ISA总线接口电路的设计及研究实验室研究与探索2000年第1期:76~80;
    [60] 韩学超 采用DMA技术实现的高速数据采集系统 电子技术2000年第9期:30~32;
    [61] 殷玮玮,苏弘,马晓莉,杨治虎,李小刚,朱海东微机ISA总线上的多功能接口板核电子学与探测技术 Vol,22 No.3 May 2002:276~278;
    [62] 郭英辉,祁载康 高速数据采集卡及其接口电路设计 电子技术应用 1999年 第11期:62~64;
    [63] 闵华松 基于PC总线的数据采集卡的基本设计方法电子技术应用 2001年第5期:41~44;
    [64] 杨金岩,郑应强 一种用于超声波检测的高速数据采集卡计算机自动测量与控制2000.8(5):20~22;
    [65] 姚松,杨兆选 数据采集卡的研制和应用 自动化与仪表 第16卷 2001年 第1期:17~20;
    [66] 邱寄帆 虚拟数字存储示波器高速数据采集卡的设计与实现电测与仪表 Vol.38,No.426 Jun.2001:40~42;
    [67] Alfred Grill, Cold Plasma in Materials Fabrication—from fundamentals to applications, New York: IEEE Press:12~16。

© 2004-2018 中国地质图书馆版权所有 京ICP备05064691号 京公网安备11010802017129号

地址:北京市海淀区学院路29号 邮编:100083

电话:办公室:(+86 10)66554848;文献借阅、咨询服务、科技查新:66554700