OTA将成5G测试重要技术

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	中文刊名：IKJS 英文刊名：Measurement & Control Technology 出版日期：2019-05-18 出版单位：测控技术 年：2019 期：v.38;No.327 语种：中文; 页：IKJS201905037 页数：2 CN：05 ISSN：11-1764/TB 分类号：159-160

摘要

<正>5G网络通常在基站端叠加更多MI-MO子系统,也就是大规模天线系统。另外,毫米波也一直被誉为是提升5G性能的利器,其关键优势之一是可用的大量频谱带宽。5G测试比较大的挑战是由于毫米波和大规模天线技术引入使得无线设备更加复杂集成化。NI(National Instruments)作为测试测量行业的引领者,一直在围绕这些新技术,研发相关的测试测量解决方案。针对5G设备而言,增加的频率范围、新的AiP天线(Antenna-in-package)封装技术和更多的天线数量使测试难度增加,还造成测试设备的成本和运单
        

引文