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1.表面化学分析.采用全反射X射线荧光(TXRF)光谱法对硅片表面元素污染物的测定
标准号:BS ISO 14706-2014
国别:英国标准学会
发布日期:2014-07-31
2.地理信息.线性参考
标准号:ANSI/INCITS/ISO 19148-2012
国别:美国国家标准学会
发布日期:2012
3.地理信息.线性参考
标准号:NF Z52-042-2012
国别:法国标准化协会
发布日期:2012-08-01
4.地理信息.线性参考
标准号:BS EN ISO 19148-2012
国别:英国标准学会
发布日期:2012-03-31
6.地理信息.线性参考
标准号:ISO 19148-2012
国别:国际标准化组织
发布日期:2012-02-01
8.钢铁.氧的测定.在惰性气体中熔化后的红外线吸收分析法
标准号:JIS G1239-2014
国别:日本工业标准调查会
发布日期:2014-02-20
9.4A沸石化学成分分析方法 X射线荧光法
标准号:YS/T 869-2013
国别:行业标准-有色金属
发布日期:2013-04-25
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