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在所有数据库中总计命中:157,047

1.表面化学分析.采用全反射X射线荧光(TXRF)光谱法对硅片表面元素污染物的测定
标准号:BS ISO 14706-2014
国别:英国标准学会
发布日期:2014-07-31
2.用地震反射法的浅地下勘测的标准指南
标准号:ASTM D7128-2005
国别:美国材料与试验协会
发布日期:2005
3.用地震反射法的浅地下勘测的标准指南
标准号:ASTM D7128-2005(2010)
国别:美国材料与试验协会
发布日期:2005
4.地震反射层地震地质层位代号确定原则
主题词:地震 ; 反射层 ; 地质 ; 层位 ; 代号
标准号:SY/T 5933-2008
国别:行业标准-石油
发布日期:2008-06-16
5.煤的镜质体反射率显微镜测定方法
主题词:煤 ; 反射系数 ; 显微镜 ; 测量 ; 镜质体
标准号:GB/T 6948-2008
国别:国家质检总局
发布日期:2008-08-07
9.地震反射层地质层位标定
主题词:地震 ; 反射层 ; 地质 ; 层位 ; 标定
标准号:SY/T 5938-2000
国别:行业标准-石油
发布日期:2000-03-31
10.表面地球物理学方法选择的标准指南
标准号:ASTM D6429-1999(2011)e1
国别:美国材料与试验协会
发布日期:1999
1
2
按检索点细分(11)
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文摘(2)
按发布日期细分(11)
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