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1.工业硅化学分析方法 第5部分:杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法
标准编号：GB/T 14849.5-2014
标准类型：国家标准
发布日期：2014-12-05
实施日期：2015-05-01
2.氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法 第32部分:a-三氧化二铝含量的测定 X-射线衍射法
标准编号：GB/T 6609.32-2009
标准类型：国家标准
发布单位：全国有色金属标准化技术委员会
发布日期：2009-04-15
实施日期：2010-02-01
3.氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法 第30部分:X射线荧光光谱法测定微量元素含量
标准编号：GB/T 6609.30-2009
标准类型：国家标准
发布单位：全国有色金属标准化技术委员会
发布日期：2009-04-15
实施日期：2010-02-01
4.纳米材料晶粒尺寸及微观应变的测定 X射线衍射线宽化法
标准编号：GB/T 23413-2009
标准类型：国家标准
发布单位：全国微束标准化技术委员会
发布日期：2009-04-01
实施日期：2009-12-01
5.黄金制品的扫描电镜X射线能谱分析方法
标准编号：GB/T 17362-2008
标准类型：国家标准
关键词：方法 ; 分析 ; 分析方 ; 分析方法黄金 ; 能谱分析扫 ; 扫描 ; 射线线 ; 制品
发布单位：全国微束分析标准化技术委员会
发布日期：2008-09-18
实施日期：2009-05-01
6.红土镍矿化学分析方法 第19部分:铝、铬、铁、镁、锰、镍和硅量的测定 能量色散X射线荧光光谱法
标准编号：YS/T 820.19-2012
标准类型：行业标准
发布日期：2012-11-07
实施日期：2013-03-01
8.高分辩率X射线衍射测量GaAs衬底生长的AlGaAs中Al成分的试验方法
标准编号：GB/T 24576-2009
标准类型：国家标准
发布单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会
发布日期：2009-10-30
实施日期：2010-06-01
9.氟化铝化学分析方法和物理性能测定方法 第16部分:X射线荧光光谱分析法测定元素含量
标准编号：YS/T 581.16-2008
标准类型：行业标准
发布日期：2008-03-12
实施日期：2008-09-01
10.波谱法定性点分析电子探针显微分析导则
标准编号：GB/T 20725-2006
标准类型：国家标准
发布单位：全国微束分析标准化技术委员会
发布日期：2006-12-25
实施日期：2007-08-01
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