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Elsevier电子期刊(14)

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1.A DLTS study of hydrogen doped czochralski-grown silicon

作者：M. Jelinek^a ; ; J.G. Laven^b ; S. Kirnstoetter^c ; W. Schustereder^a ; H.-J. Schulze^b ; M. Rommel^d ; L. Frey^d ; ^e

关键词：Deep level defects ; Proton implantation ; Silicon

刊名：Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms

出版年：2015

2.Qualification of a new supplier for silicon particle detectors

作者：M. Dragicevic ; U. Bartl ; T. Bergauer ; E. Fr眉hwirth ; S. Gamerith ; J. Hacker ; F. Kr枚ner ; E. Kucher ; J. Moser ; T. Neidhart ; H.-J. Schulze ; W. Schustereder ; W. Treberspurg ; T. W眉bben

关键词：Silicon sensor ; Planar strip sensor ; p-on-n ; Semiconductor production

刊名：Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment

出版年：21 December, 2013

3.Reflection properties of small hydrocarbons impinging on tungsten and carbon surfaces

作者：N. Endstrasser ; B. Rasul ; W. Schustereder ; K. Krieger ; A. Kendl ; P. Scheier ; T.D. Mä ; rk

关键词：Ion surface collisions ; Sticking coefficient ; Tungsten ; Carbon fibre composite

刊名：Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms

出版年：2009

4.Discharge resolved impurity flux measurements in the edge plasma of ASDEX Upgrade by exposure of collector probes

作者：W. Schustereder ; K. Krieger ; A. Herrmann ; V. Rohde ; ASDEX Upgrade Team

关键词：ASDEX Upgrade ; Erosion and deposition ; Impurity ; Probes ; Tungsten

刊名：Journal of Nuclear Materials

出版年：2007

5.Sticking coefficient and SIMS of hydrocarbons on fusion relevant plasma-sprayed tungsten surfaces

作者：W. Schustereder ; B. Rasul ; N. Endstrasser ; F. Zappa ; V. Grill ; P. Scheier ; T.D. Mä ; rk

关键词：Sticking coefficient ; Hydrocarbons ; Tungsten ; Plasma-sprayed tungsten

刊名：Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms

出版年：2007

6.Discrimination effects for ions with initial kinetic energy produced by electron ionization of C₂H₂ in a Nier-type ion source

作者：Feil ; S. ; Bacher ; A. ; Zangerl ; M. ; Schustereder ; W. ; Gluch ; K. ; Scheier ; P.

关键词：Ionization cross sections ; Excess kinetic energy ; Fragment ions ; Ion discrimination

刊名：International Journal of Mass Spectrometry

出版年：2004

7.Discrimination effects for ions with initial kinetic energy produced by electron ionization of C₂H₂ in a Nier-type ion source

作者：Feil ; S. ; Bacher ; A. ; Zangerl ; M. ; Schustereder ; W. ; Gluch ; K. ; Scheier ; P.

关键词：Ionization cross sections ; Excess kinetic energy ; Fragment ions ; Ion discrimination

刊名：International Journal of Mass Spectrometry

出版年：2004

8.Ion optics evaluation of the plasma ion mass spectrometer (PIMS) designed for the JET tokamak

作者：Matthews ; G.F. ; Schustereder ; W. ; Cant ; N. ; Erents ; S.K. ; Vince ; J. ; Qayyum ; A. ; Mair ; C. ; Scheier ; P. ; et. al.

关键词：Plasma mass spectrometry ; Trochoidal mass spectrometer ; Ion trajectory simulations ; Tokamak plasma

刊名：International Journal of Mass Spectrometry

出版年：2003

9.Cross sections and ion kinetic energies for electron impact ionization of CH₄

作者：Gluch ; K. ; Scheier ; P. ; Schustereder ; W. ; Tepnual ; T. ; Feketeova ; L. ; Mair ; C. ; Matt-Leubner ; S. ; et. al.

关键词：Cross sections ; Ion kinetic energy ; Electron impact ionization ; CH₄

刊名：International Journal of Mass Spectrometry

出版年：2003

10.Edge plasma-relevant ion–surface collision processes

作者：Cernusca ; S. ; Winter ; HP. ; Aumayr ; F. ; Qayyum ; A. ; Schustereder ; W. ; Mair ; C. ; Scheier ; P. ; Mä ; rk ; T.D.

关键词：34.50.Dy ; 79.20.Rf ; Plasma&ndash ; surface interaction ; Graphite ; Multiply charged ion

刊名：International Journal of Mass Spectrometry

出版年：2003

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