搜索页_Atomic-resolution+electron+microscopy

读者指南

远程访问

科技查新

公务邮箱

NSTL服务站

在“Elsevier”中，命中：664条，耗时：0.0289896 秒

1.Progress and problems for atomic-resolution electron microscopy

作者：David J. Smith ; ^{david.smith@asu.edu}

关键词：Atomic-resolution electron microscopy ; Spherical aberration ; Aberration correction ; Information limit ; Microscope performance

刊名：Micron

出版年：2012

2.Model-based electron microscopy: From images toward precise numbers for unknown structure parameters

作者：S. Van Aert^a ; ^{sandra.vanaert@ua.ac.be} ; W. Van den Broek^a ; P. Goos^b ; ^c ; D. Van Dyck^a

关键词：Statistical experimental design ; Quantitative atomic resolution transmission electron microscopy ; Statistical parameter estimation

刊名：Micron

出版年：2012

3.Low voltage and variable-pressure scanning electron microscopy of fractured composites

作者：Luis Rogerio de Oliveira Hein ; ^{rhein@feg.unesp.br} ; Kamila Amato de Campos ; Pietro Carelli Reis de Oliveira Caltabiano

关键词：Monte Carlo ; Low voltage ; Variable pressure scanning electron microscope ; Signal-to-noise ratio

刊名：Micron

出版年：2012

4.Spatial resolution and radiation damage in quantitative high-resolution STEM-EEL spectroscopy in oxides

作者：L. Houben^a ; ^b ; ^{l.houben@fz-juelich.de} ; M. Heidelmann^a ; ^b ; F. Gunkel^c

关键词：Scanning transmission electron microscopy ; Electron energy loss spectroscopy ; Radiation damage ; Oxides

刊名：Micron

出版年：2012

5.Precision of three-dimensional atomic scale measurements from HRTEM images: What are the limits?

作者：A. Wang^a ; ^{amy.wang@ua.ac.be} ; S. Van Aert^a ; P. Goos^b ; ^c ; D. Van Dyck^a

关键词：High resolution transmission electron microscopy ; Bayesian experimental design ; Structure determination ; Data processing

刊名：Ultramicroscopy

出版年：2012

6.Structure of UMo₄O₁₄ oxide

作者：N.D. Zakharov ; ^{zakharov@mpi-halle.mpg.de} ; E. Pippel ; R. Hillebrand ; P. Werner

关键词：Structure refinement ; Uranium&ndash ; molybdenum oxide ; High resolution electron microscopy ; High-angle annular dark field

刊名：Progress in Nuclear Energy

出版年：2012

7.Evaluation of probe size in STEM imaging at 30 and 60 kV

作者：Takeo Sasaki^a ; ^d ; ^{tasasaki@jeol.co.jp} ; Hidetaka Sawada^a ; ^d ; Eiji Okunishi^a ; Fumio Hosokawa^a ; Toshikatsu Kaneyama^a ; ^d ; Yukihito Kondo^a ; Koji Kimoto^b ; ^d ; Kazu Suenaga^c ; ^d

关键词：Low-voltage electron microscopy ; Aberration-corrected scanning transmission electron microscopy ; Annular dark field imaging ; Multislice simulation ; Chromatic aberration ; Probe size

刊名：Micron

出版年：2012

8.Specific, Sensitive, High-Resolution Detection of Protein Molecules in Eukaryotic Cells Using Metal-Tagging Transmission Electron Microscopy

作者：Cristina Risco¹ ; ^{crisco@cnb.csic.es} ; Eva Sanmartí ; n-Conesa¹ ; Wen-Pin Tzeng² ; ⁵ ; Teryl ; K. Frey² ; Volker Seybold³ ; Raoul ; J. de ; Groot⁴

刊名：Structure

出版年：2012

9.Putting structure into context: fitting of atomic models into electron microscopic and electron tomographic reconstructions

作者：Niels Volkmann ^{niels@sanfordburnham.org}

刊名：Current Opinion in Cell Biology

出版年：2012

10.Atomic force microscopy applied to the quantification of nano-precipitates in thermo-mechanically treated microalloyed steels

作者：Luciano Renterí ; a-Borja^a ; Eduardo Hurtado-Delgado^a ; ^{hurtado@itmorelia.edu.mx} ; Pedro Garnica-Gonzá ; lez^a ; Ivá ; n Domí ; nguez-Ló ; pez^b ; Adriá ; n Luis Garcí ; a-Garcí ; a^b

关键词：Atomic force microscopy ; Microalloyed steel ; Nanometric precipitates ; Chemical etching

刊名：Materials Characterization

出版年：2012

1

2

3

4

5

6

7

8

9

按检索点细分(664)

题名(14)

关键词(20)

文摘(555)

按出版年细分(664)

2000年及以前(222)

2001年(49)

2002年(49)

2003年(49)

2004年(59)

2005年(47)

2006年(32)

2007年(61)

2008年(51)

2012年(45)

网站地图　|　常见问题　|　交通位置　|　联系我们　|　OA远程办公　|　English

© 2004-2018 中国地质图书馆版权所有京ICP备05064691号京公网安备11010802017129号

地址：北京市海淀区学院路29号邮编：100083

电话：办公室：(+86 10)66554848；文献借阅、咨询服务、科技查新：66554700