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1.珍珠珠层厚度测定方法 光学相干层析法
标准编号：GB/T 23886-2009
标准类型：国家标准
发布单位：全国珠宝玉石标准化技术委员会
发布日期：2009-06-01
实施日期：2010-01-01
2.硅抛光片表面平整度测试方法
标准编号：GB/T 6621-1995
标准类型：国家标准
关键词：半导体材料硅 ; 平整度 ; 表面 ; 测量
发布日期：1995-04-18
实施日期：1995-12-01
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