常用资源 电子图书期刊论文学位会议外文资源特色专题内部出版物 
GSW全文库(46)馆藏书目(3)综合电子资源(9)CNKI期刊论文0611(179)
中国地质文献-英文(33)地学标准(1)万方学术会议(321)知网期刊论文(49485)
中国地质文献-中文(167)Springer电子图书(114)CNKI会议论文(328)万方学位论文(2223)
馆藏期刊(215)院士团队服务(3)CNKI学位论文(51532)标准(1)
在“地学标准”中，命中：1条，耗时：小于0.01 秒

在所有数据库中总计命中：104,660条

1.低温傅立叶变换红外光谱法测量硅单晶中III、V族杂质含量的测试方法
标准编号：GB/T 24581-2009
标准类型：国家标准
发布单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会
发布日期：2009-10-30
实施日期：2010-06-01
1
按检索点细分(1)
其他标准名称(1)
按发布日期细分(1)
2009年(1)
按标准来源细分(1)
本地标准(1)
按标准状态细分(1)
有效(1)

© 2004-2018 中国地质图书馆版权所有 京ICP备05064691号 京公网安备11010802017129号

地址：北京市海淀区学院路29号 邮编：100083

电话：办公室：(+86 10)66554848；文献借阅、咨询服务、科技查新：66554700