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1.无损检测仪器 相控阵超声检测系统的性能与检验
标准编号：GB/T 29302-2012
标准类型：国家标准
发布日期：2012-12-31
实施日期：2013-06-01
2.硅、锗单晶电阻率测定 直排四探针法
标准编号：GB/T 1552-1995
标准类型：国家标准
关键词：测量硅 ; 半导体材料 ; 电阻率锗
发布日期：1995-04-18
实施日期：1995-12-01
3.硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定 直排四探针法
标准编号：GB/T 14141-1993
标准类型：国家标准
关键词：硅 ; 扩散 ; 电阻测量 ; 离子 ; 外延层
发布日期：1993-02-06
实施日期：1993-10-01
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