搜索页_metro

常用资源

电子图书

期刊论文

学位会议

外文资源

特色专题

内部出版物

中国地质文献-英文(28)	SpringerLink电子期刊(2010)	GSW全文库(10)
Wiley电子期刊(61)	ProQuest学位论文(208)	Elsevier电子期刊(4255)
Springer电子图书(120)	NATURE电子期刊(507)	ACS电子期刊(90)

在“Wiley电子期刊”中，命中：61条，耗时：小于0.01 秒

在所有数据库中总计命中：7,289条

1.Coherent X-ray beam metrology using 2D high-resolution Fresnel-diffraction analysis

作者：M. Ruiz-Lopez ; A. Faenov ; T. Pikuz ; N. Ozaki ; A. Mitrofanov ; B. Albertazzi ; N. Hartley ; T. Matsuoka ; Y. Ochante ; Y. Tange ; T. Yabuuchi ; T. Habara ; K. A. Tanaka ; Y. Inubushi ; M. Yabashi ; M. Nishikino ; T. Kawachi ; S. Pikuz ; T. Ishikawa ; R. Kodama and D. Bleiner

关键词：X-ray ; beam metrology ; Fresnel diffraction ; fourth-generation source ; SACLA ; LiF ; X-ray imaging detector ; color centers

刊名：Journal of Synchrotron Radiation

出版年：2017

2.X-ray grating interferometer for in situ and at-wavelength wavefront metrology

作者：Yves Kayser ; Christian David ; Uwe Flechsig ; Juraj Krempasky ; Volker Schlott and Rafael Abela

关键词：X-ray grating interferometry ; wavefront metrology ; X-ray optics ; XFELs

刊名：Journal of Synchrotron Radiation

出版年：2017

3.Encapsulation and backsheet adhesion metrology for photovoltaic modules

作者：Jared Tracy ; Nick Bosco ; Fernando Novoa and Reinhold Dauskardt

刊名：Progress in Photovoltaics: Research and Applications

出版年：2017

4.DABAM: an open-source database of X-ray mirrors metrology

作者：Manuel Sanchez del Rio ; Davide Bianchi ; Daniele Cocco ; Mark Glass ; Mourad Idir ; Jim Metz ; Lorenzo Raimondi ; Luca Rebuffi ; Ruben Reininger ; Xianbo Shi ; Frank Siewert ; Sibylle Spielmann-Jaeggi ; Peter Takacs ; Muriel Tomasset ; Tom Tonnessen ; Amparo Vivo and Valeriy Yashchuk

关键词：X-ray mirror ; metrology ; database ; Python ; statistics

刊名：Journal of Synchrotron Radiation

出版年：2016

5.Hearing visuo-tactile synchrony - Sound-induced proprioceptive drift in the invisible hand illusion

作者：Gergely Darnai ; Tibor Szolcsá ; nyi ; Gá ; bor Hegedüs ; Pé ; ter Kincses ; Já ; nos Ká ; llai ; Má ; rton Ková ; cs ; Eszter Simon ; Zsó ; fia Nagy and Jó ; zsef Janszky

刊名：British Journal of Psychology

出版年：2017

6.The at-wavelength metrology facility for UV- and XUV-reflection and diffraction optics at BESSY-II

作者：F. Schä ; fers ; P. Bischoff ; F. Eggenstein ; A. Erko ; A. Gaupp ; S. Kü ; nstner ; M. Mast ; J.-S. Schmidt ; F. Senf ; F. Siewert ; A. Sokolov and Th. Zeschke

关键词：reflectometer ; c-PGM beamline ; at-wavelength metrology ; polarimetry ; reflectivity ; diffraction gratings ; XUV optical elements

刊名：Journal of Synchrotron Radiation

出版年：2016

7.Development of a speckle-based portable device for in situ metrology of synchrotron X-ray mirrors

作者：Yogesh Kashyap ; Hongchang Wang and Kawal Sawhney

关键词：speckle ; X-ray optics ; metrology

刊名：Journal of Synchrotron Radiation

出版年：2016

8.GIMPy: a software for the simulation of X-ray fluorescence and reflectivity of layered materials

作者：Fabio Brigidi and Giancarlo Pepponi

刊名：X-Ray Spectrometry

出版年：2017

9.Landscapes of extended ruralisation: postcolonial suburbs in Dar es Salaam, Tanzania

作者：Claire Mercer

刊名：Transactions of the Institute of British Geographers

出版年：2017

10.Über große Dächer - „Die fünfte Ansicht”

作者：Prof. Dr.-Ing. Eberhard Mö ; ller

刊名：Stahlbau

出版年：2017

按检索点细分(61)

题名(20)

关键词(12)

文摘(47)

按出版年细分(61)

2017年(9)

2016年(51)

2015年(1)

地址：北京市海淀区学院路29号邮编：100083

电话：办公室：(+86 10)66554848；文献借阅、咨询服务、科技查新：66554700