X射线荧光光谱法测定钨矿中主次元素

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X射线荧光光谱法测定钨矿中主次元素

详细信息

责任者：杨丽峰^c中国地质科学院^d1974^e硕士 ; 李小莉^c天津地质矿产研究所 ; 李国会^c中国地质科学院物化探所 ; 安树清
刊名：地质调查与研究
出版年：2009
卷期：32^b1总125
关键词：X射线荧光光谱 ; 钨 ; 磷20^a钨矿 ; 化学分析 ; 分析仪器 ; 标准样品 ; 样品制备 ; 检出限 ; 精密度 ; 准确度
页码：64～68
索书号：P512.06/627
图表：^c表6参7插图
分类号：2300
文摘期号：2009/09

摘要

笔者采用熔融玻璃片法制样,使用X射线荧光光谱法测定钨矿石中的钨、磷等主次元素,所用校准标样是用符合国家一级标准的物质由人工配制而成,并用理论α系数内标法及康普顿散射作内标校正基体效应,其分析结果与标准值相符。精密度统计结果显示,主、次量组分方法精密度为0.371%～6.806%。该方法做到了简便、快捷、经济且减少环境污染。