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粉晶X射线衍射法在岩石学和矿物学研究中的应用
详细信息
责任者:
庞小丽^c北京北达燕园微构分析测试中心有限公司^d1981^e硕士
;
刘晓晨^c北京大学
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薛雍
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江向锋
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江超华
刊名:岩矿测试
出版年:2009
卷期:28^b5总117
关键词:
X射线衍射分析
;
岩石学
;
矿物学20^a粉末法
;
应用
;
X射线衍射数据
页码:452~456
索书号:P340.6/357-2
图表:^c参22
分类号:2300
文摘期号:2010/02
摘要
X射线衍射是测定物质结构的主要分析手段,广泛应用于物理学、化学、医药学、金属学、材料学、工程技术学、地质学和矿物学。该文综述了粉晶X射线衍射法在造岩矿物、黏土矿物、岩组学、类质同象和结晶度的测定等领域发挥的重要作用。随着测量技术的发展,粉晶X射线衍射在矿物结晶过程中的研究、矿物表面研究、矿物定量相分析和矿物晶体结构测定方面均有新的应用。
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