基于谱线相关性的激光诱导击穿光谱技术半定量分析方法
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  • 作者:CONG Zhi-bo丛智博SUN Lan-xiang孙兰香XIN Yong辛勇YANG Zhi-jia杨志家
  • 会议时间:2012-10-31
  • 关键词:材料分析 ; 激光诱导击穿光谱 ; 半定量分析 ; 谱线相关性
  • 作者单位:CONG Zhi-bo,SUN Lan-xiang,XIN Yong,YANG Zhi-jia(Key Laboratory of Industrial Informatics, Shenyang Institute of Automation, Chinese Academy of Sciences, Shenyang 110016, China)丛智博,孙兰香,辛勇,杨志家(中国科学院沈阳自动化研究所,工业信息学重点实验室,辽宁沈阳110016)
  • 母体文献:2012国际冶金及材料分析测试学术报告会(CCATM2012)论文集
  • 会议名称:2012国际冶金及材料分析测试学术报告会(CCATM2012)
  • 会议地点:北京
  • 主办单位:中国金属学会
  • 语种:chi
摘要
LIBS技术是一种利用分析等离子体辐射发射光谱,从而对未知物进行定性定量分析的在线分析技术。由于此技术所分析的等离子体生命周期短,稳定性差,在定量分析上存在很大误差。本文提出了一种利用被测物特征谱线组与标准谱线组进行的相关系数比较来对未知物进行半定量分析的新方法。通过激光激发纯铜纯铝样本,选取一系列特征谱线所对应的强度关系作为标准光谱数据,与其他含铜、铝成分不同的样品光谱数据进行相关性系数比较,通过相关系数的大小来确定样品中所含铜、铝成分的多少。实验证明,它能够快速判断被测物质中的元素组成,同时判断元素含量高低;而且可以同时判断多种元素,判断结果更准确,应用实现更容易。
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