部分再结晶状态690合金的EBSD表征

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• 作者：夏爽周邦新陈文觉
• 会议时间：2007-08-20
• 关键词：电子背散射衍技术 ; 再结晶 ; CSL晶界 ; 孪晶 ; 690合金
• 作者单位：上海大学 材料研究所,上海,200072
• 母体文献：第二届全国电子背散射衍射技术及其应用会议论文集
• 会议名称：第二届全国电子背散射衍射技术及其应用会议
• 会议地点：内蒙古包头
• 主办单位：中国体视学学会
• 语种：chi

摘要

运用EBSD(电子背散射衍射,electron backscattereddiffraction)收集了部分再结晶状态690合金样品表面的显微取向信息。运用TSL-EBSD的OIM(取向成像显微系统,orientationimage microscopy)4.6软件中不同的分析功能,重构了不同的取向成像显微图,得到再结晶区域与未再结晶区域的分布情况,并分析了再结晶区域内的取向分布特征。结果表明,运用OIM构图中的"平均晶粒取向差"的功能能够十分直观地反映再结晶晶粒和形变基体的分布情况;690合金再结晶过程就是孪晶链的发展过程。