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1.
Silicon-on-insulator dynamic threshold ESD networks and active clamp circuitry
作者:
Voldman
;
S.
;
Hui
;
D.
;
Young
;
D.
;
Williams
;
R.
;
Dreps
;
D.
;
Howard
;
J.
;
Sherony
;
M.
;
Assaderaghi
;
F.
;
et. al.
关键词:
ESD
;
Silicon-on-Insulator
;
Protection
;
Active clamp
刊名:Journal of Electrostatics
出版年:2002
2.
Electrostatic discharge (ESD) protection in silicon-on-insulator (SOI) CMOS technology with aluminum and copper interconnects in advanced microprocessor semiconductor chips
作者:
Voldman
;
S.
;
Hui
;
D.
;
Warriner
;
L.
;
Young
;
D.
;
Howard
;
J.
;
Assaderaghi
;
F.
;
Shahidi
;
G.
关键词:
SOI
;
On-chip protection
;
ESD
;
CMOS
;
Submicron IC technology
;
Human body model
刊名:Journal of Electrostatics
出版年:2000
3.
Dynamic threshold body- and gate-coupled SOI ESD protection networks
作者:
Voldman
;
S.
;
Assaderaghi
;
F.
;
Mandelman
;
J.
;
Hsu
;
L.
;
Shahidi
;
G.
关键词:
ESD
;
SOI
;
Protection networks
刊名:Journal of Electrostatics
出版年:1998
4.
Velocity overshoot of electrons and holes in Si inversion layers
作者:
Sinitsky
;
D.
;
Assaderaghi
;
F.
;
Orshansky
;
M.
;
Bokor
;
J.
;
Hu
;
C.
刊名:Solid-State Electronics
出版年:1997
1
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