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Elsevier电子期刊(1)
在“
Elsevier电子期刊
”中,
命中:
1
条,耗时:0.0799638 秒
在所有数据库中总计命中:
1
条
1.
A fusion prognostics-based qualification test methodology for microelectronic products
作者:
Michael Pecht
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pecht@calce.umd.
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Tadahiro Shibutani
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shibu@ynu.jp" class="
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Myeongsu Kang
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mskang@calce.umd.
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Melinda Hodkiewicz
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Melinda.hodkiewicz@uwa.
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Edward
Cripps
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thor
关键词:
Microelectronics
;
Physics-of-failure
;
Prognostics
;
Qualification testing
;
Reliability
刊名:Microelectronics Reliability
出版年:2016
1
按检索点细分(1)
作者(1)
按出版年细分(1)
2016年(1)
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