在“Elsevier电子期刊”中,命中:8条,耗时:小于0.01 秒

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4.Integrating testability with design space exploration
作者:Zwolinski ; M. ; Gaur ; M.S.
刊名:Microelectronics Reliability
出版年:2003
5.Design for Testability for Highly Reconfigurable Component-Based Systems
刊名:Electronic Notes in Theoretical Computer Science
出版年:2003
6.Preface: Volume 82, Issue 6
作者:Mauro Pezzè
刊名:Electronic Notes in Theoretical Computer Science
出版年:2003
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