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1.Combined quartz crystal microbalance with dissipation (QCM-D) and generalized ellipsometry (GE) to characterize the deposition of titanium dioxide nanoparticles on model rough surfaces

作者：Negin Kananizadeh^a ; ^c ; Charles Rice^b ; ^c ; Jaewoong Lee^a ; ^c ; ^d ; Keith B. Rodenhausen^b ; ^c ; ^e ; Derek Sekora^b ; ^c ; Mathias Schubert^b ; ^c ; Eva Schubert^b ; ^c ; Shannon Bartelt-Hunt^a ; ^c ; Yusong Li^a ; ^c ; ^{yli7@unl.edu" class="auth_mail" title="E-mail the corresponding author}

关键词：Quartz crystal microbalance ; Rough surfaces ; Engineered nanoparticles ; Nanoparticle deposition ; Generalized ellipsometry

刊名：Journal of Hazardous Materials

出版年：2017

2.Correlation-free ellipsometric characterization of uniaxially anisotropic nanolayers

作者：Peep Adamson

关键词：Ultrathin dielectric films ; Uniaxially anisotropic films ; Generalized ellipsometry

刊名：Optik - International Journal for Light and Electron Optics

出版年：January, 2014

3.The influnence of an accurate incident angle in magneto-optical ellipsometry system

作者：X. Wang ; J. Lian ; F.J. Zhang ; X.H. Yu ; P. Li ; S. Gao ; Y.S. Wang ; Z.Z. Sun

关键词：Incident angle accuracy ; Magneto-optical coupling constant ; Magnetic material ; Giant magneto-optical ellipsometry ; Reflective and transmission matrix theory

刊名：Optik - International Journal for Light and Electron Optics

出版年：2013

4.Anomalous magneto-optical behavior of uniaxial Co/CoO bilayer films

作者：J.B. Gonz¨¢lez-D¨ªaz ; J.A. Arregi ; E. Bergaretxe ; M.J. Fertin ; O. Idigoras ; A. Berger

关键词：Generalized magneto-optical ellipsometry ; Ellipsometry ; Birefringence ; Optical anisotropy ; Magneto-optics

刊名：Journal of Magnetism and Magnetic Materials

出版年：2013

5.Theory of dual-rotating polarizer and analyzer ellipsometer

作者：Micka?l Gilliot ; Aotmane En Naciri

关键词：Generalized ellipsometry ; Double modulation ; Thin films ; Anisotropy ; Optical properties ; Polarization

刊名：Thin Solid Films

出版年：2013

6.Aligned metallic nanoparticles on rippled surfaces: Optical characterization using generalized ellipsometry

作者：T.W.H. Oates

关键词：Plasmon ; Metamaterials ; Dielectric function ; Ellipsometry

刊名：Applied Surface Science

出版年：2012

7.Generalized ellipsometry of artificially designed line width roughness

作者：Martin Foldyna^a ; ^{marfol@gmail.com} ; Thomas A. Germer^a ; Brent C. Bergner^a ; ^b ; Ronald G. Dixson^a

关键词：Biperiodic grating ; Diffraction grating ; Ellipsometry ; Line width roughness ; Mueller matrix ; Multi-azimuth method ; RCWA

刊名：Thin Solid Films

出版年：2011

8.Selective sensitivity of ellipsometry to magnetic nanostructures

作者：K. Postava^a ; ^{kamil.postava@vsb.cz} ; D. Hrabovský ; ^a ; J. Hamrlová ; ^a ; J. Piš ; tora^a ; A. Wawro^b ; L.T. Baczewski^b ; I. Sveklo^c ; A. Maziewski^c

关键词：Generalized ellipsometry ; Magneto-optical ellipsometry ; Material sensitivity ; Magnetic nanostructures

刊名：Thin Solid Films

出版年：2011

9.Inverse relationships for ellipsometry of uniaxially anisotropic nanoscale dielectric films on isotropic materials

作者：Peep Adamson ^{peep.adamson@ut.ee}

关键词：Uniaxially anisotropic ultrathin dielectric films ; Generalized ellipsometry ; Polarization ; Long-wavelength approximation

刊名：Optics Communications

出版年：2012

10.Optical properties of soda-lime float glass from spectroscopic ellipsometry

作者：Ron A. Synowicki ; ^a ; ^{rsynowicki@jawoollam.com} ; Blaine D. Johs^a ; Andrew C. Martin^a

关键词：Spectroscopic ellipsometry ; Float glass ; Soda-lime glass ; Refractive index ; Birefringence ; Air side ; Tin side ; Index gradient

刊名：Thin Solid Films

出版年：2011

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