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6.Sputter depth profiling of InN layers
刊名:Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms
出版年:2004
10.MC simulations of depth profiling by low energy ions
作者:Kosiba ; R. ; Ecke ; G.
刊名:Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms
出版年:2002
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