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CNKI学位论文(52)
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条
1.
Régime mé
di
terranéen et risque de démence à long terme : résultats de l’étude Trois-Cités-Bordeaux
作者:
C. Fé
;
art
1
;
catherine.feart@isped.fr" class="auth_mail" title="E-mail the correspon
di
ng author
;
C. Samieri
1
;
S. Ajana
1
;
S. Auriacombe
2
;
C. Delcourt
1
;
J.-F. Dartigues
3
;
C. Helmer
3
刊名:Nutrition Clinique et Métabolisme
出版年:2016
2.
Adhérence au régime mé
di
terranéen et risque de fragilité chez des personnes âgées vivant à domicile : étude Trois-Cités Bordeaux
作者:
B. El Rahi
1
;
2
;
3
;
berna.rahi@gmail.com" class="auth_mail" title="E-mail the correspon
di
ng author
;
S. Ajana
1
;
2
;
3
;
M. Tabue-Teguo
1
;
2
;
3
;
J.-F. Dartigues
1
;
2
;
3
;
K. Peres
1
;
2
;
3
;
C. Fé
;
art
1
;
2
;
3
刊名:Nutrition Clinique et Métabolisme
出版年:2016
3.
Incidence de l’endophtalmie aiguë postopératoire après chirurgie de la cataracte par phacoémulsification et injection intracamérulaire d’antibiotiques, en France de 2005 à 2014
作者:
C. Creuzot-Garcher
a
;
b
;
catherine.creuzot-garcher@chu-
di
jon.fr" class="auth_mail" title="E-mail the correspon
di
ng author
;
E. Benzenine
c
;
d
;
e
;
A.-S. Mariet
f
;
A. de Lazzer
a
;
C. Chiquet
a
;
A.-M. Bron
a
;
b
;
C. Quantin
d
;
e
;
f
;
g
;
h
关键词:
Endophtalmie aiguë
;
postopé
;
ratoire
;
Chirurgie de la cataracte
;
Phacoé
;
mulsification
刊名:Revue d'épidémiologie et de Santé Publique
出版年:2016
4.
Comparer la durée de séjour de deux groupes de patients : quel test choisir ? Comparaison des risques alpha et bêta de douze tests statistiques
作者:
E. Chazard
a
;
emmanuelchazard@yahoo.fr" class="auth_mail" title="E-mail the correspon
di
ng author
;
C. Preda
b
;
R. Beuscart
a
关键词:
Duré
;
e de sé
;
jour
;
Test statistique
;
Erreurs des tests
刊名:Revue d'épidémiologie et de Santé Publique
出版年:2016
5.
Dermite de contact aux protéines d’asticot chez un pêcheur
作者:
F. Brault
;
b_fanny_511@hotmail.com" class="auth_mail" title="E-mail the correspon
di
ng author
;
C. Poreaux
;
c.poreaux@chu-nancy.fr" class="auth_mail" title="E-mail the correspon
di
ng author
;
J. Waton
;
C. Delahaye
;
G. Clerc
;
A. Barbaud
刊名:Revue Française d'Allergologie
出版年:2016
6.
Dermite de contact aux protéines d’asticot chez un pêcheur
关键词:
Proté
;
ine d&rsquo
;
asticot
;
Dermite de contact
;
Pulpite
刊名:Annales de Dermatologie et de Vénéréologie
出版年:2016
7.
Effects of buffer compensation strategies on the electrical performance and RF reliability of AlGaN/GaN HEMTs
作者:
D. Bisi
a
;
davide.bisi@dei.unipd.it" class="auth_mail" title="E-mail the correspon
di
ng author
;
bisi@dei.unipd.it" class="auth_mail" title="E-mail the correspon
di
ng author
;
A. Stocco
a
;
antonio.stocco@dei.unipd.it" class="auth_mail" title="E-mail the correspon
di
ng author
;
I. Rossetto
a
;
M. Meneghini
a
;
F. Rampazzo
a
;
A. Chini
b
;
alessandro.chini@unimore.it" class="auth_mail" title="E-mail the correspon
di
ng author
;
F. Soci
b
;
A. Pantellini
c
;
alessio.pantellini@selex-es.com" class="auth_mail" title="E-mail the correspon
di
ng author
;
C. Lanzieri
c
;
clau
di
o.lanzieri@selex-es.com" class="auth_mail" title="E-mail the correspon
di
ng author
;
P. Gamarra
d
;
C. Lacam
d
;
M. Tordjman
d
;
M.-A.
di
Forte
-
Poisson
d
;
marie-antoinette.
poisson
@3-5lab.fr" class="auth_mail" title="E-mail the correspon
di
ng author
;
D. De Salvador
e
;
davide.desalvador@unipd.it" class="auth_mail" title="E-mail the correspon
di
ng author
;
M. Bazzan
e
;
G. Meneghesso
a
;
E. Zanoni
a
;
enrico.zanoni@dei.unipd.it" class="auth_mail" title="E-mail the correspon
di
ng author
关键词:
GaN
;
HEMT
;
RF
;
Buffer
;
Iron
;
Carbon
;
Short-channel
;
Trapping
;
Reliability
刊名:Microelectronics Reliability
出版年:2015
8.
Impact of the substrate and of the nucleation layer on the properties of AlGaN/GaN HEMTs on SiC
作者:
P. Gamarra
;
piero.gamarra@3-5lab.fr
;
C. Lacam
;
M. Tordjman
;
M.-A.
di
Forte
-
Poisson
关键词:
A1. Nucleation
;
A1. Surface structure
;
A3. Metalorganic vapour phase epitaxy
;
B1. Nitrides
;
B3. High electron mobility transistors
刊名:Journal of Crystal Growth
出版年:2013
9.
Reliability investigation of the degradation of the surface passivation of InAlN/GaN HEMTs using a dual gate structure
作者:
Clemens Ostermaier
;
Peter Lagger
;
Mohammed Alomari
;
Patrick Herfurth
;
David Maier
;
Alex
;
er Alexewicz
;
Marie-Antoinette
di
Forte
-
Poisson
;
Sylvain L. Delage
;
Gottfried Strasser
;
Di
onyz Pogany
;
Erhard Kohn
刊名:Microelectronics Reliability
出版年:2012
10.
GaAlN/GaN HEMT heterostructures grown on SiCopSiC composite substrates for HEMT application
作者:
M.-A.
di
Forte
Poisson
;
M. Magis
;
M. Tordjman
;
J.
Di
Persio
;
R. Langer
;
L. Toth
;
B. Pecz
;
M. Guziewicz
;
J. Thorpe
;
R. Aubry
;
E. Morvan
;
N. Sarazin
;
C. Gaquiè
;
re
;
G. Meneghesso
;
V. Hoel
;
J.-C. Jacq
关键词:
A1. Defects
;
A3. Metalorganic vapour phase epitaxy
;
B1. Nitrides
;
B2. Semiconducting III–
;
V materials
;
B3. Field effect transistors
;
B3. Heterojunction semiconductor devices
;
B3. High electron mobility transistors
刊名:Journal of Crystal Growth
出版年:2008
1
2
3
按检索点细分(25)
作者(17)
文摘(6)
按出版年细分(25)
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2015年(1)
2013年(1)
2012年(1)
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