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1.硅片电阻率测定 扩展电阻探针法
标准编号：GB/T 6617-1995
标准类型：国家标准
关键词：测量 ; 半导体材料硅 ; 电阻率
发布日期：1995-04-18
实施日期：1995-12-01
2.金属材料电阻系数测量方法
标准编号：GB/T 351-1995
标准类型：国家标准
关键词：金属 ; 电阻率测量
发布单位：冶金工业部信息标准研究院
发布日期：1995-04-11
实施日期：1995-12-01
3.硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定 直排四探针法
标准编号：GB/T 14141-1993
标准类型：国家标准
关键词：硅 ; 扩散 ; 电阻测量 ; 离子 ; 外延层
发布日期：1993-02-06
实施日期：1993-10-01
4.硅晶体中间隙氧含量径向变化测量方法
标准编号：GB/T 14144-1993
标准类型：国家标准
关键词：含量测定 ; 晶体 ; 间隙硅氧
发布日期：1993-02-06
实施日期：1993-10-01
5.纯金属电阻率与剩余电阻比涡流衰减测量方法
标准编号：GB/T 12968-1991
标准类型：国家标准
发布日期：1991-06-04
实施日期：1992-03-01
6.非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
标准编号：GB/T 4326-1984
标准类型：国家标准
发布日期：1984-04-12
实施日期：1985-03-01
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